基于PXIe仪器的GB/T 22351标准RFID一致性测试技术的研究和实现
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 RFID技术研究现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 国内外RFID测试系统研发情况 | 第10-14页 |
| 1.2.2 虚拟仪器技术 | 第14页 |
| 1.3 论文开展的主要工作 | 第14-15页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第15-17页 |
| 第二章 RFID系统原理 | 第17-27页 |
| 2.1 RFID系统组成 | 第17-18页 |
| 2.2 振幅键控调制 | 第18-21页 |
| 2.2.1 ASK公式定义及典型波形 | 第18-19页 |
| 2.2.2 2ASK功率谱密度 | 第19-20页 |
| 2.2.3 ASK调制系统仿真 | 第20-21页 |
| 2.3 电感耦合原理 | 第21-24页 |
| 2.3.1 电感耦合电路结构 | 第21-22页 |
| 2.3.2 电感耦合电感设计 | 第22-24页 |
| 2.4 RFID测试技术 | 第24-26页 |
| 2.4.1 RFID测试分类 | 第24-25页 |
| 2.4.2 RFID测试技术难点 | 第25-26页 |
| 2.5 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 GB/T 22351协议研究 | 第27-47页 |
| 3.1 物理层关键技术 | 第27-34页 |
| 3.1.1 系统工作频率和场强 | 第27页 |
| 3.1.2 读写器到标签的通信 | 第27-31页 |
| 3.1.3 标签到读写器的通信 | 第31-34页 |
| 3.2 数据链路层参数和关键技术 | 第34-46页 |
| 3.2.1 数据链路层命令 | 第34-44页 |
| 3.2.2 标签的状态转移 | 第44-45页 |
| 3.2.3 CRC校验 | 第45-46页 |
| 3.3 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 基于PXle模块化仪器的RFID系统实现 | 第47-73页 |
| 4.1 系统总体设计 | 第47-51页 |
| 4.1.1 系统硬件架构 | 第47-49页 |
| 4.1.2 RFID系统软件架构 | 第49-51页 |
| 4.2 仪器参数配置 | 第51-53页 |
| 4.3 物理层发射机的设计与实现 | 第53-61页 |
| 4.3.1 空闲状态 | 第54-55页 |
| 4.3.2 Head状态 | 第55页 |
| 4.3.3 帧开始状态 | 第55-57页 |
| 4.3.4 编码状态 | 第57-58页 |
| 4.3.5 帧结束状态 | 第58-59页 |
| 4.3.6 Tail状态 | 第59-60页 |
| 4.3.7 IQ数据交织发射模块 | 第60-61页 |
| 4.4 物理层接收机的设计与实现 | 第61-68页 |
| 4.4.1 IQ数据接收模块 | 第61-62页 |
| 4.4.2 等待状态 | 第62页 |
| 4.4.3 计算并跳过高电平状态 | 第62-63页 |
| 4.4.4 帧头状态 | 第63-64页 |
| 4.4.5 解码状态 | 第64-67页 |
| 4.4.6 比特流到字节转换状态 | 第67-68页 |
| 4.5 数据链路层的设计与实现 | 第68-71页 |
| 4.5.1 Idle状态 | 第69-70页 |
| 4.5.2 Write状态 | 第70页 |
| 4.5.3 Wait状态 | 第70页 |
| 4.5.4 Read状态 | 第70-71页 |
| 4.6 本章小结 | 第71-73页 |
| 第五章 RFID测试系统的设计与实现 | 第73-89页 |
| 5.1 实际系统 | 第73-74页 |
| 5.2 协议一致性测试 | 第74-79页 |
| 5.2.1 状态转移测试 | 第74-78页 |
| 5.2.2 响应时间测试 | 第78页 |
| 5.2.3 响应数据测试 | 第78-79页 |
| 5.3 物理层射频及性能测试 | 第79-87页 |
| 5.3.1 射频参数测试 | 第79-81页 |
| 5.3.2 联合时频分析 | 第81-83页 |
| 5.3.3 应答信号星座图 | 第83-85页 |
| 5.3.4 标签扫频测试 | 第85-87页 |
| 5.5 本章小结 | 第87-89页 |
| 第六章 总结与展望 | 第89-91页 |
| 致谢 | 第91-93页 |
| 参考文献 | 第93-97页 |
| 攻读硕士期间发表的论文和科研成果 | 第97页 |
