电路板残片图像识别
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 课题目的及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 图像分割研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.2 图像识别研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 论文研究成果 | 第15-16页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第16-17页 |
| 第二章 电路板图像对象分割 | 第17-39页 |
| 2.1 引言 | 第17-18页 |
| 2.2 方法概述 | 第18页 |
| 2.3 Graph cuts | 第18-21页 |
| 2.4 Grab cut | 第21-23页 |
| 2.4.1 颜色模型 | 第21-22页 |
| 2.4.2 模型初始化 | 第22-23页 |
| 2.4.3 迭代能量最小化 | 第23页 |
| 2.5 基于Grab cut的对象分割 | 第23-29页 |
| 2.5.1 K-means聚类 | 第24-25页 |
| 2.5.2 颜色空间 | 第25-26页 |
| 2.5.3 电路板前景提取 | 第26-27页 |
| 2.5.4 电路板对象分割 | 第27-29页 |
| 2.6 基于概率抽样颜色模型的对象精定位 | 第29-35页 |
| 2.6.1 颜色模型 | 第30-31页 |
| 2.6.2 精定位算法 | 第31-34页 |
| 2.6.3 参数设置 | 第34-35页 |
| 2.7 实验结果与分析 | 第35-37页 |
| 2.7.1 实验数据及采集方案 | 第35页 |
| 2.7.2 实验结果 | 第35-37页 |
| 2.8 本章小结 | 第37-39页 |
| 第三章 电路板残片图像识别 | 第39-55页 |
| 3.1 引言 | 第39-40页 |
| 3.2 方法概述 | 第40-41页 |
| 3.3 SIFT特征 | 第41页 |
| 3.4 相似性度量 | 第41-46页 |
| 3.4.1 描述一致性原则 | 第42页 |
| 3.4.2 空间一致性原则 | 第42-43页 |
| 3.4.3 方向一致性原则 | 第43-44页 |
| 3.4.4 综合相似性度量 | 第44-46页 |
| 3.5 仿射变换 | 第46-47页 |
| 3.6 方法改进 | 第47-50页 |
| 3.6.1 候选匹配对策略修改 | 第48-49页 |
| 3.6.2 增加空间一致性约束 | 第49-50页 |
| 3.7 实验结果与分析 | 第50-54页 |
| 3.7.1 模拟残片数据集 | 第50-52页 |
| 3.7.2 实验结果 | 第52-54页 |
| 3.8 本章小结 | 第54-55页 |
| 第四章 人群聚集与分离事件检测 | 第55-71页 |
| 4.1 引言 | 第55-56页 |
| 4.2 TRECVID-SED任务 | 第56-57页 |
| 4.3 聚集与分离事件检测框架 | 第57-58页 |
| 4.4 多目标跟踪方法改进 | 第58-62页 |
| 4.4.1 方法概述 | 第58-59页 |
| 4.4.2 高斯过程回归 | 第59-60页 |
| 4.4.3 实验结果与分析 | 第60-62页 |
| 4.5 基于轨迹分析的事件检测 | 第62-70页 |
| 4.5.1 轨迹分析算法 | 第62-66页 |
| 4.5.2 区域跨越检测算法 | 第66-69页 |
| 4.5.3 实验结果与分析 | 第69-70页 |
| 4.6 本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 总结与展望 | 第71-75页 |
| 5.1 本文小结 | 第71-72页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第72-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第81页 |
