基于90nm工艺带LDO驱动频率可修调的振荡器设计
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-10页 |
| 1.1 概述 | 第8页 |
| 1.2 振荡器发展现状 | 第8-9页 |
| 1.3 本论文研究内容 | 第9-10页 |
| 第二章 振荡器的分类与原理 | 第10-16页 |
| 2.1 晶体振荡器 | 第10-11页 |
| 2.2 环形振荡器 | 第11-14页 |
| 2.3 RC振荡器 | 第14-16页 |
| 第三章 LDO电路设计 | 第16-22页 |
| 3.1 LDO电路设计原理 | 第16-19页 |
| 3.2 LDO仿真结果 | 第19-22页 |
| 第四章 张弛振荡器电路的设计 | 第22-52页 |
| 4.1 张弛振荡器电路整体架构及原理 | 第22-23页 |
| 4.2 振荡器中Iref的电路设计 | 第23-42页 |
| 4.2.1 Iref中误差放大器模块 | 第24-31页 |
| 4.2.2 粗调电阻模块 | 第31-34页 |
| 4.2.3 精调电阻模块 | 第34-37页 |
| 4.2.4 Iref仿真 | 第37-42页 |
| 4.3 整体起振电路的设计 | 第42-48页 |
| 4.3.1 RS触发器 | 第44-45页 |
| 4.3.2 比较器的设计 | 第45-46页 |
| 4.3.3 振荡电路 | 第46-48页 |
| 4.4 整体电路仿真 | 第48-52页 |
| 第五章 相位噪声的研究 | 第52-56页 |
| 5.1 相位噪声的定义 | 第52-53页 |
| 5.2 相位噪声的来源 | 第53-55页 |
| 5.2.1 MOS器件的热噪声 | 第53-54页 |
| 5.2.2 MOS器件的闪烁噪声 | 第54-55页 |
| 5.3 相位噪声仿真结果 | 第55-56页 |
| 第六章 版图设计与仿真 | 第56-60页 |
| 6.1 版图设计流程 | 第56-57页 |
| 6.2 整体版图设计 | 第57-60页 |
| 6.2.1 LDO版图设计 | 第57-58页 |
| 6.2.2 LDO版图后仿 | 第58页 |
| 6.2.3 振荡器版图设计 | 第58-59页 |
| 6.2.4 振荡器版图后仿 | 第59-60页 |
| 第七章 总结与展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 在学期间的研究成果 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
