基于透镜阵列的数字三维集成成像重构
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 绪论 | 第7-14页 |
| 1.1 引言 | 第7页 |
| 1.2 研究背景和意义 | 第7-9页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第9-12页 |
| 1.4 本文研究内容及章节安排 | 第12-14页 |
| 2 集成成像技术 | 第14-23页 |
| 2.1 集成成像技术工作原理 | 第14-16页 |
| 2.1.1 集成成像的获取过程 | 第14-15页 |
| 2.1.2 集成成像的重现过程 | 第15-16页 |
| 2.2 集成成像系统分类 | 第16-17页 |
| 2.2.1 全光学集成成像系统 | 第16-17页 |
| 2.2.2 计算集成成像系统 | 第17页 |
| 2.2.3 计算机生成集成成像系统 | 第17页 |
| 2.3 集成成像技术存在的问题 | 第17-18页 |
| 2.4 图像分辨率 | 第18-21页 |
| 2.5 子图串扰 | 第21-22页 |
| 2.6 本章总结 | 第22-23页 |
| 3 透镜阵列图像标定及畸变参数估计 | 第23-37页 |
| 3.1 传统图像标定方法及透镜畸变模型 | 第23-28页 |
| 3.1.1 传统标定方法 | 第23-24页 |
| 3.1.2 透镜畸变模型 | 第24-26页 |
| 3.1.3 传统方法实验结果分析 | 第26-28页 |
| 3.2 透镜阵列单元图像校正 | 第28-35页 |
| 3.2.1 激光标定法 | 第28-30页 |
| 3.2.2 基于特征线法的镜头畸变参数估计 | 第30-32页 |
| 3.2.3 实验数据分析 | 第32-35页 |
| 3.3 本章总结 | 第35-37页 |
| 4 立体匹配研究及深度提取 | 第37-60页 |
| 4.1 Harris特征点检测 | 第37-39页 |
| 4.2 SIFT特征点检测 | 第39-42页 |
| 4.3 改进的SIFT特征点检测 | 第42-52页 |
| 4.3.1 噪声分析 | 第42-48页 |
| 4.3.2 摄像机仿射模型 | 第48页 |
| 4.3.3 ASIFT算法及采样概述 | 第48-49页 |
| 4.3.4 双边滤波下的ASIFT检测 | 第49-51页 |
| 4.3.5 实验结果分析 | 第51-52页 |
| 4.4 特征点匹配准则与深度提取 | 第52-59页 |
| 4.4.1 互相关匹配算法 | 第53-55页 |
| 4.4.2 深度值优化算法 | 第55页 |
| 4.4.3 实验结果分析 | 第55-59页 |
| 4.5 本章总结 | 第59-60页 |
| 5 透镜阵列三维成像实验系统 | 第60-65页 |
| 5.1 实验系统 | 第60-61页 |
| 5.2 切片式三维重构原理 | 第61-62页 |
| 5.3 双边滤波下的优化显示 | 第62-63页 |
| 5.4 实验结果显示 | 第63-64页 |
| 5.5 本章总结 | 第64-65页 |
| 6 总结和展望 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 附录 | 第71页 |
