基于智能天线的UHF RFID阅读器中基带电路设计与软件开发
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 射频识别技术简介 | 第9-10页 |
| 1.1.1 射频识别技术的概念 | 第9-10页 |
| 1.1.2 射频识别技术的产生与发展 | 第10页 |
| 1.2 射频识别(RFID)系统 | 第10-14页 |
| 1.2.1 RFID系统的组成 | 第10-12页 |
| 1.2.2 RFID系统的分类 | 第12-14页 |
| 1.3 国内外研究应用现状 | 第14-16页 |
| 1.3.1 国外的研究和应用现状 | 第14页 |
| 1.3.2 国内的研究和应用现状 | 第14-15页 |
| 1.3.3 RFID技术面临的主要问题 | 第15-16页 |
| 1.4 论文的主要工作和章节安排 | 第16-17页 |
| 第二章 阅读器的基带系统设计 | 第17-33页 |
| 2.1 阅读器系统设计 | 第17页 |
| 2.2 智能天线发射波束形成的原理及仿真 | 第17-19页 |
| 2.3 现有的RFID阅读器解决方案 | 第19-21页 |
| 2.3.1 采用专用RFID芯片的阅读器 | 第19-20页 |
| 2.3.2 采用通用无线收发芯片的阅读器 | 第20-21页 |
| 2.3.3 采用分立元件实现的阅读器 | 第21页 |
| 2.4 阅读器软件需求分析 | 第21-23页 |
| 2.4.1 基带程序方案设计 | 第21-23页 |
| 2.5 基带电路设计 | 第23-32页 |
| 2.5.1 基带芯片的选型 | 第23页 |
| 2.5.2 基带芯片简介 | 第23-25页 |
| 2.5.3 基带电路总体设计 | 第25-26页 |
| 2.5.4 处理器电路设计 | 第26-27页 |
| 2.5.5 外设电路设计 | 第27页 |
| 2.5.6 系统电源设计 | 第27-28页 |
| 2.5.7 复位电路设计 | 第28-29页 |
| 2.5.8 系统时钟电路设计 | 第29页 |
| 2.5.9 上位机接口电路设计 | 第29-30页 |
| 2.5.10 调试电路设计 | 第30-31页 |
| 2.5.11 PCB设计 | 第31-32页 |
| 2.6 本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 RFID协议的分析与实现 | 第33-53页 |
| 3.1 RFID协议标准和技术规范 | 第33页 |
| 3.2 ISO 18000-6C协议的层次划分 | 第33-34页 |
| 3.3 物理层实现 | 第34-39页 |
| 3.3.1 下行链路 | 第34-37页 |
| 3.3.2 上行链路 | 第37-39页 |
| 3.4 标签识别层实现 | 第39-52页 |
| 3.4.1 标签识别层命令 | 第39-43页 |
| 3.4.2 单标签轮询 | 第43-44页 |
| 3.4.3 多标签轮询 | 第44-46页 |
| 3.4.4 标签读写 | 第46-48页 |
| 3.4.5 标签锁定和销毁 | 第48-52页 |
| 3.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 第四章 射频控制程序的设计 | 第53-71页 |
| 4.1 直接数字频率合成控制程序的设计 | 第53-61页 |
| 4.1.1 直接数字频率合成简介 | 第53-54页 |
| 4.1.2 DDS芯片简介 | 第54-55页 |
| 4.1.3 串行I/O端口 | 第55-57页 |
| 4.1.4 指令字节说明 | 第57页 |
| 4.1.5 串行I/O端口的引脚 | 第57页 |
| 4.1.6 串行I/O端口的功能 | 第57-58页 |
| 4.1.7 MSB/LSB转移 | 第58页 |
| 4.1.8 串行I/O操作模式 | 第58-59页 |
| 4.1.9 DDS的实现 | 第59-61页 |
| 4.2 锁相环控制程序的设计 | 第61-70页 |
| 4.2.1 锁相环简介 | 第61页 |
| 4.2.2 锁相环芯片简介 | 第61-62页 |
| 4.2.3 锁相环芯片的编程 | 第62-68页 |
| 4.2.4 接口 | 第68-69页 |
| 4.2.5 锁相环实物图 | 第69-70页 |
| 4.3 本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 基带程序测试 | 第71-79页 |
| 5.1 基带程序开发及调试环境 | 第71-72页 |
| 5.2 协议程序测试 | 第72-74页 |
| 5.2.1 阅读器命令PIE编码测试 | 第72-74页 |
| 5.3 射频控制程序的测试 | 第74-78页 |
| 5.3.1 DDS的测试 | 第74-77页 |
| 5.3.2 锁相环的测试 | 第77-78页 |
| 5.4 本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
| 发表论文和参加科研情况 | 第85-87页 |
| 致谢 | 第87页 |
