Ka波段相控阵中场校准方法研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-15页 |
| ·近场测量校准技术 | 第11-13页 |
| ·互耦技术 | 第13页 |
| ·换相测量法 | 第13-14页 |
| ·中场校准方法 | 第14-15页 |
| ·旋转矢量法 | 第15页 |
| ·各方法比较 | 第15-16页 |
| ·本文的研究内容和章节安排 | 第16-17页 |
| 第2章 相控阵天线误差源分析 | 第17-25页 |
| ·相控阵幅相误差来源 | 第17页 |
| ·相控阵天线幅相误差影响 | 第17-25页 |
| 第3章 相控阵中场校准工作原理 | 第25-28页 |
| ·探头固定校准 | 第26页 |
| ·探头逐点移动校准 | 第26-27页 |
| ·探头分区域移动校准 | 第27-28页 |
| 第4章 相控阵中场校准方案设计 | 第28-46页 |
| ·校准系统构架 | 第28-30页 |
| ·中场测试距离的确定及其引起的误差 | 第30-33页 |
| ·中场测试距离的确定 | 第30-31页 |
| ·中场测试距离引起的误差 | 第31-33页 |
| ·探头设计及其引起的误差 | 第33-35页 |
| ·阵面倾斜的影响及解决方案 | 第35-39页 |
| ·阵面倾斜的影响 | 第35-37页 |
| ·探头与天线阵对准方案 | 第37-39页 |
| ·小型移动微波暗室 | 第39-40页 |
| ·暗室宽度和高度 | 第39页 |
| ·暗室设计 | 第39-40页 |
| ·立式二维扫描架 | 第40-41页 |
| ·天线支架 | 第41-44页 |
| ·天线测试架高 | 第41-43页 |
| ·天线支架设计 | 第43-44页 |
| ·扫描方案 | 第44-46页 |
| ·探头分区域移动校准方式 | 第45页 |
| ·探头逐点移动校准方式 | 第45-46页 |
| 第5章 相控阵中场校准仿真验证 | 第46-66页 |
| ·全阵面一致性及幅相数据修正 | 第46-49页 |
| ·中场校准方法仿真验证 | 第49-61页 |
| ·阵列校准前数据 | 第49-52页 |
| ·阵列理想情况下的方向图 | 第52-53页 |
| ·单探头固定校准 | 第53-57页 |
| ·单探头移动校准 | 第57-61页 |
| ·旋转矢量法的仿真验证 | 第61-66页 |
| ·旋转矢量法的数学模型 | 第61-62页 |
| ·旋转矢量法的仿真验证 | 第62-66页 |
| 结论 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 攻读学位期间发表论文与研究成果清单 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
