| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-24页 |
| ·石墨烯的研究进展 | 第9-16页 |
| ·石墨烯的结构、性质及应用 | 第9-12页 |
| ·石墨烯的制备 | 第12-14页 |
| ·石墨烯高分子复合材料 | 第14-16页 |
| ·光限幅材料的研究进展 | 第16-23页 |
| ·光限幅机理 | 第16-18页 |
| ·主要的无机光限幅材料 | 第18-23页 |
| ·碳纳米材料 | 第18-21页 |
| ·贵金属/半导体纳米颗粒 | 第21-23页 |
| ·本论文的目的、意义及研究内容 | 第23-24页 |
| 第二章 氧化石墨烯液晶的制备及其光限幅性能研究 | 第24-39页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·实验部分 | 第24-29页 |
| ·GO液晶的制备 | 第24-26页 |
| ·试剂及仪器 | 第24-25页 |
| ·实验步骤 | 第25-26页 |
| ·组成结构测试与表征 | 第26-28页 |
| ·傅里叶红外光谱(FT-IR) | 第26页 |
| ·X射线衍射分析(XRD) | 第26-27页 |
| ·紫外-可见吸收光谱(UV-vis) | 第27页 |
| ·透射电子显微镜(TEM) | 第27页 |
| ·偏光显微镜(POM) | 第27-28页 |
| ·扫描电子显微镜(SEM) | 第28页 |
| ·开孔Z扫描测试系统 | 第28-29页 |
| ·组成和结构分析 | 第29-33页 |
| ·傅里叶红外光谱分析 | 第29-30页 |
| ·X射线衍射分析 | 第30页 |
| ·紫外-可见吸收光谱 | 第30-31页 |
| ·透射电子显微照片 | 第31-32页 |
| ·偏光显微镜照片 | 第32页 |
| ·扫描电子显微镜照片 | 第32-33页 |
| ·非线性测试分析 | 第33-36页 |
| ·GO水溶液在不同能量下的Z扫描结果 | 第33-34页 |
| ·GO水溶液不同浓度时的Z扫描结果 | 第34-36页 |
| ·光限幅测试分析 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 氧化石墨烯壳聚糖复合薄膜材料的制备及其光限幅效应研究 | 第39-49页 |
| ·引言 | 第39页 |
| ·实验部分 | 第39-40页 |
| ·样品制备 | 第39-40页 |
| ·试剂及仪器 | 第39页 |
| ·GO-CS复合膜的制备 | 第39-40页 |
| ·组成结构测试与表征 | 第40页 |
| ·透射电子显微镜(TEM) | 第40页 |
| ·紫外-可见吸收光谱(UV-vis) | 第40页 |
| ·开孔Z扫描测试系统 | 第40页 |
| ·组成和结构分析 | 第40-42页 |
| ·透射电子显微镜照片 | 第40-41页 |
| ·紫外可见吸收光谱分析 | 第41-42页 |
| ·非线性测试分析 | 第42-46页 |
| ·不同掺杂浓度的GO-CS复合薄膜的Z扫描结果 | 第42-43页 |
| ·GO-CS复合薄膜与GO水溶液的Z扫描结果 | 第43-45页 |
| ·GO-CS复合薄膜在不同能量下的Z扫描结果 | 第45-46页 |
| ·光限幅测试分析 | 第46-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 Au和Ag纳米颗粒改性的钛酸盐纳米带光限幅效应研究 | 第49-61页 |
| ·引言 | 第49-50页 |
| ·实验部分 | 第50-51页 |
| ·样品制备 | 第50页 |
| ·组成和结构测试与表征 | 第50页 |
| ·开孔Z扫描测试系统 | 第50-51页 |
| ·组成与结构分析 | 第51-52页 |
| ·非线性光学测试 | 第52-58页 |
| ·三种材料的Z扫描结果对比 | 第52-54页 |
| ·TNBs的Z扫描结果 | 第54-55页 |
| ·Au-TNB的Z扫描结果 | 第55-57页 |
| ·Ag-TNB的Z扫描结果 | 第57-58页 |
| ·光限幅测试分析 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 个人简历 | 第69-70页 |
| 在学期间发表的学术论文 | 第70页 |