摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-5页 |
目录 | 第5-7页 |
第一章 概述 | 第7-23页 |
·碳纳米管结构、性质及应用 | 第7-10页 |
·碳纳米管的结构 | 第7-9页 |
·碳纳米管的性质 | 第9-10页 |
·碳纳米管的应用 | 第10页 |
·碳纳米管探针的应用(与传统硅探针相比) | 第10-11页 |
·碳纳米管探针的制备和优化研究简介 | 第11-14页 |
·碳纳米管及探针的主要制备方法 | 第11-12页 |
·碳纳米管探针的优化研究 | 第12-14页 |
·碳纳米管的拉曼光谱 | 第14-17页 |
·单壁碳纳米管的拉曼光谱 | 第15-16页 |
·多壁碳纳米管的拉曼光谱 | 第16页 |
·拉曼测试中激光波长的选择 | 第16-17页 |
·粒子轰击碳纳米管的改性研究 | 第17-20页 |
·粒子轰击碳纳米管机理及缺陷 | 第18-19页 |
·粒子轰击碳纳米管的研究现状 | 第19-20页 |
·碳纳米管的热处理研究 | 第20-22页 |
·研究内容 | 第22页 |
·研究的目的及意义 | 第22-23页 |
第二章 FIB 轰击碳纳米管实验研究 | 第23-48页 |
·主要的实验设备介绍 | 第23-26页 |
·FEI Nova NanoLab 200 双束设备 | 第23-24页 |
·雷尼绍拉曼测试仪 | 第24-25页 |
·高分辨率透射电子显微镜(HRTEM) | 第25-26页 |
·聚焦镓离子(Ga+)束轰击多壁碳纳米管(MWNT)实验 | 第26-30页 |
·实验基本介绍 | 第26-27页 |
·实验结果的拉曼光谱表征及分析 | 第27-29页 |
·高分辨率透射电子显微镜(HRTEM)表征及分析 | 第29页 |
·小结 | 第29-30页 |
·聚焦镓离子(Ga+)束轰击单壁碳纳米管(SWNT)实验 | 第30-45页 |
·实验基本介绍——样品准备、轰击参数设置等 | 第30-43页 |
·实验结果的透射电子显微镜(TEM)表征及分析 | 第43-45页 |
·小结 | 第45页 |
·SEM 电子束辐照对 SWNT 样品的影响研究实验 | 第45-46页 |
·本章小结 | 第46-48页 |
第三章 离子轰击缺陷的热处理恢复研究 | 第48-61页 |
·退火热处理对轰击缺陷的恢复研究 | 第48-56页 |
·退火设备及相关参数设置 | 第48页 |
·300 oC 退火热处理对单壁碳纳米管缺陷修复研究 | 第48-50页 |
·450oC 退火热处理对单壁碳纳米管缺陷修复研究 | 第50-52页 |
·600oC 退火热处理对单壁碳纳米管缺陷修复研究 | 第52-55页 |
·HRTEM 对退火热处理恢复结果的表征及分析 | 第55-56页 |
·其他现象及分析 | 第56页 |
·激光热处理对轰击缺陷的恢复研究 | 第56-57页 |
·碳纳米管探针的表征实验 | 第57-60页 |
·小结 | 第60-61页 |
第四章 总结与展望 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-68页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第68-69页 |
致谢 | 第69页 |