基于MCNP对燃料包壳厚度测量影响因素的分析研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| ·研究背景 | 第11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·涡流法 | 第12页 |
| ·中子活化法 | 第12页 |
| ·γ射线测量法 | 第12页 |
| ·X射线检测法 | 第12-13页 |
| ·β射线检测法 | 第13页 |
| ·研究重点和意义 | 第13-15页 |
| ·研究技术路线与研究方法 | 第15-16页 |
| ·论文章节内容 | 第16-17页 |
| 第2章 包壳测量理论基础 | 第17-27页 |
| ·~(238)U衰变系 | 第17-18页 |
| ·β粒子与物质的相互作用 | 第18-23页 |
| ·电离损失 | 第19-20页 |
| ·辐射损失 | 第20-21页 |
| ·β射线的散射 | 第21-22页 |
| ·β射线的吸收 | 第22-23页 |
| ·蒙特卡罗方法及MCNP软件 | 第23-26页 |
| ·蒙特卡罗方法 | 第23-24页 |
| ·MCNP建模 | 第24-25页 |
| ·INP文件建立过程 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 技术方法和MCNP建模 | 第27-30页 |
| ·测量系统的建模方法 | 第27-28页 |
| ·包壳厚度的计算方法 | 第28页 |
| ·数据分析和处理方法 | 第28-29页 |
| ·计数值重复测量 | 第29页 |
| ·包壳的加工工艺 | 第29页 |
| ·拟合公式 | 第29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第4章 厚度测量系统影响因素分析 | 第30-80页 |
| ·抽样源项的能谱分析 | 第30-35页 |
| ·吸收曲线 | 第30-33页 |
| ·探测器的计数分析 | 第33-35页 |
| ·线性衰减系数计算 | 第35-46页 |
| ·β射线在包壳材料中吸收规律 | 第35-37页 |
| ·锆合金衰减系数计算 | 第37-40页 |
| ·锆合金各组分衰减系数计算 | 第40-45页 |
| ·线性衰减系数的比较 | 第45-46页 |
| ·面密度因素 | 第46-54页 |
| ·面密度 | 第46-47页 |
| ·面密度影响因素分析 | 第47-54页 |
| ·边缘效应因素 | 第54-58页 |
| ·狗骨区问题 | 第54-55页 |
| ·探测器位置分析 | 第55-58页 |
| ·间隙因素 | 第58-59页 |
| ·准直孔因素 | 第59-63页 |
| ·准直装置设计 | 第59-60页 |
| ·准直器参数分析 | 第60-63页 |
| ·与探测器效率有关的因子 | 第63-66页 |
| ·几何因子 | 第64页 |
| ·分辨时间修正因子 | 第64页 |
| ·坪斜修正因子 | 第64-65页 |
| ·反散射修正因子 | 第65-66页 |
| ·吸收修正因子 | 第66页 |
| ·计数修正 | 第66页 |
| ·本底因素 | 第66-67页 |
| ·宇宙射线 | 第67页 |
| ·周围环境的辐射 | 第67页 |
| ·探测元件中的放射性 | 第67页 |
| ·降低源外因素本底的措施 | 第67页 |
| ·基体效应因素 | 第67-71页 |
| ·元素间吸收增强效应 | 第68-70页 |
| ·物理化学效应 | 第70页 |
| ·不均匀性效应 | 第70页 |
| ·不同的材料加工工艺 | 第70页 |
| ·不同的热处理方法 | 第70-71页 |
| ·化学形态差异 | 第71页 |
| ·反散射因素 | 第71-79页 |
| ·反散射系数 | 第72-75页 |
| ·反散射的计数分析 | 第75-77页 |
| ·探测器的p能谱分析 | 第77-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 结论 | 第80-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-89页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第89页 |
