光波导阵列电光扫描器的实验研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·激光偏转/扫描技术 | 第7-8页 |
| ·光学相控阵技术的发展 | 第8-10页 |
| ·光波导光学相控阵 | 第10-11页 |
| ·本论文主要工作 | 第11-13页 |
| 第二章 光波导阵列电光扫描器的工作原理 | 第13-21页 |
| ·晶体线性电光效应 | 第13-15页 |
| ·光波导阵列电光扫描器的工作原理 | 第15-18页 |
| ·光栅理论 | 第15-17页 |
| ·工作原理 | 第17-18页 |
| ·光波导阵列电光扫描器的电控理论 | 第18-21页 |
| ·一般加电理论 | 第18-19页 |
| ·2π加电理论 | 第19-21页 |
| 第三章 光波导阵列电光扫描器芯片的制作 | 第21-27页 |
| ·结构参数设计 | 第21-24页 |
| ·芯层厚度设计 | 第21-22页 |
| ·单元间距设计 | 第22-23页 |
| ·长度设计 | 第23页 |
| ·芯层和包层折射率设计 | 第23-24页 |
| ·芯片的制作 | 第24-25页 |
| ·芯片电特性测试 | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第四章 光波导阵列电光扫描器光束扫描实验的研究 | 第27-43页 |
| ·影响光场特性的因素 | 第28-31页 |
| ·光路调整对光场特性的影响 | 第28-29页 |
| ·芯片端面不平整对光场特性的影响 | 第29页 |
| ·CCD 饱和效应对光场特性测试的影响 | 第29-31页 |
| ·电控系统输出校准 | 第31-34页 |
| ·电控系统输出校准测试 | 第31-33页 |
| ·加载电压校正方案 | 第33-34页 |
| ·电控方式对光束扫描的影响 | 第34-37页 |
| ·基于一般加电方式的光束扫描 | 第34-35页 |
| ·基于 2π加电方式的光束扫描 | 第35-37页 |
| ·光波导电特性对光束扫描的影响 | 第37-39页 |
| ·光束扫描速度测试 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第五章 总结 | 第43-45页 |
| 致谢 | 第45-47页 |
| 参考文献 | 第47-51页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第51-52页 |
