摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-9页 |
目录 | 第9-12页 |
第一章 绪论 | 第12-27页 |
·天然放射性核素概述 | 第12-15页 |
·长寿命独立原生放射性核素 | 第12页 |
·天然放射性衰变系中的核素 | 第12-13页 |
·核衰变方式 | 第13-14页 |
·放射性单位的转换 | 第14-15页 |
·~(210)Pb、~(210)Bi、~(210)Po的性质简介 | 第15-19页 |
·~(210)Pb、~(210)Bi、~(210)Po的核素特征 | 第15-16页 |
·~(210)Pb、~(210)Bi、~(210)Po测试技术在各个领域的应用 | 第16-19页 |
·~(210)Pb、~(210)Bi、~(210)Po的研究现状 | 第19-25页 |
·~(210)Pb的测定 | 第20-23页 |
·~(210)Bi的测定 | 第23-24页 |
·~(210)Po的测定 | 第24页 |
·~(210)Pb、~(210)Bi和~(210)Po的同时测定 | 第24-25页 |
·本研究的背景、意义与目的 | 第25-27页 |
第二章 Cu箔富集-α、β计数法同时测定岩石及土壤中的~(210)Pb、~(210)Bi、~(210)Po | 第27-47页 |
·引言 | 第27页 |
·定性和定量方法 | 第27-28页 |
·定性原理 | 第27-28页 |
·定量原理 | 第28页 |
·实验部分 | 第28-31页 |
·仪器和试剂 | 第28-29页 |
·实验方法 | 第29-31页 |
·结果与讨论 | 第31-45页 |
·Cu箔富集,α放射体的认证 | 第31-32页 |
·铜箔富集,β放射体的认证 | 第32-33页 |
·制源酸度的选择 | 第33-34页 |
·制源温度的选择 | 第34-36页 |
·制源体积的选择 | 第36-37页 |
·还原剂及其用量的选择 | 第37-38页 |
·溶矿试剂组分的选择 | 第38-39页 |
·溶液中共存离子的允许量 | 第39-40页 |
·最佳前处理条件 | 第40页 |
·化学回收率 | 第40-41页 |
·工作曲线的线性范围 | 第41-42页 |
·样品的测定 | 第42页 |
·方法性能 | 第42-45页 |
·小结 | 第45-47页 |
第三章 Ni箔富集-α、β计数法同时测定岩石及土壤中的~(210)Pb、~(210)Bi、~(210)Po | 第47-61页 |
·引言 | 第47页 |
·实验部分 | 第47-49页 |
·仪器和试剂 | 第47-48页 |
·实验方法 | 第48-49页 |
·结果与讨论 | 第49-59页 |
·镍箔富集,α放射体的认证 | 第49页 |
·镍箔富集,β放射体的认证 | 第49-50页 |
·制源条件的选择 | 第50-52页 |
·还原剂及其用量的选择 | 第52-55页 |
·最佳前处理条件 | 第55页 |
·化学回收率 | 第55-56页 |
·样品源计数率—样品含量的线性范围 | 第56页 |
·样品的测定 | 第56-57页 |
·方法性能 | 第57-58页 |
·标准溶液稳定性~(210)Pb、~(210)Bi、~(210)Po | 第58-59页 |
·小结 | 第59-61页 |
第四章 自镀机理、同位素干扰校正和测量精度的理论分析及探讨 | 第61-69页 |
·引言 | 第61页 |
·自镀机理的探讨 | 第61-65页 |
·自镀反应的机理 | 第61-64页 |
·自镀反应的程度对a、p净计数率的影响 | 第64页 |
·自镀材料的选择 | 第64-65页 |
·同位素干扰校正的理论分析 | 第65-67页 |
·Po同位素的干扰与去除 | 第65-66页 |
·Bi同位素的干扰与去除 | 第66-67页 |
·弱α、β测量时,~(210)Bi、~(210)Po净计数率的校正 | 第67页 |
·小结 | 第67-69页 |
第五章 结论及展望 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-78页 |
致谢 | 第78-79页 |
攻读学位期间发表的论文 | 第79页 |