摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-17页 |
·研究背景及意义 | 第10-12页 |
·二维条码标准发展与条码识别研究现状 | 第12-14页 |
·二维码码型标准 | 第12-13页 |
·条码识别中的图像处理 | 第13-14页 |
·光照均衡化算法与数学形态学简介 | 第14-15页 |
·VLSI 实现技术简介 | 第15-16页 |
·论文的主要工作和组织结构 | 第16-17页 |
第二章 二维条码图像处理的基本流程 | 第17-27页 |
·引言 | 第17页 |
·二维条码图像灰度化处理 | 第17-18页 |
·图像滤波 | 第18-20页 |
·图像二值化 | 第20-22页 |
·光照预处理的主要算法 | 第22-26页 |
·光照预处理的重要性 | 第22页 |
·Retinex 算法 | 第22-23页 |
·直方图均衡算法 | 第23-25页 |
·梯度域增强算法 | 第25页 |
·照明—反射模型修复法 | 第25-26页 |
·本章小结 | 第26-27页 |
第三章 基于数学形态学光照均衡算法 | 第27-45页 |
·数学形态学介绍 | 第27-29页 |
·数学形态学的基本运算 | 第29-35页 |
·结构元素 | 第29页 |
·腐蚀运算 | 第29-30页 |
·膨胀运算 | 第30-32页 |
·腐蚀与膨胀的性质 | 第32-33页 |
·形态学开运算 | 第33-34页 |
·形态学闭运算 | 第34-35页 |
·形态学去光照算法 | 第35-44页 |
·TOP-HAT 变换 | 第35-37页 |
·熵理论 | 第37页 |
·基于多结构元素的形态学光照均衡化算法 | 第37-40页 |
·算法验证以及适应性分析 | 第40-43页 |
·算法对不同码制二维条码图像的去光照适应性 | 第40-41页 |
·算法对不同尺度二维条码图像的去光照适应性 | 第41-42页 |
·算法对不同倾斜角度二维条码图像的去光照适应性 | 第42-43页 |
·本文算法与其他算法的比较 | 第43-44页 |
·本章小结 | 第44-45页 |
第四章 二维条码图像分割算法的逻辑实现以及 FPGA 验证 | 第45-67页 |
·算法实现总体框架 | 第45-49页 |
·腐蚀算法的 VLSI 实现以及仿真波形 | 第49-59页 |
·腐蚀算法设计总体框图 | 第49页 |
·结构元素的选取模块设计 | 第49-50页 |
·比较器设计 | 第50-53页 |
·数据缓冲 FIFO 设计 | 第53-57页 |
·控制模块设计及整体功能仿真 | 第57-59页 |
·膨胀算法的 VLSI 实现以及仿真波形 | 第59页 |
·开运算的 VLSI 实现 | 第59-60页 |
·TOP-HAP 变换减法模块 | 第60-61页 |
·图像融合模块设计 | 第61-62页 |
·整体控制部分设计 | 第62页 |
·整体功能仿真 | 第62-64页 |
·算法的 FPGA 验证 | 第64-66页 |
·本章小结 | 第66-67页 |
第五章 二维条码光照均衡算法的 ASIC 实现 | 第67-74页 |
·数字设计流程介绍 | 第67-69页 |
·算法硬件模块的 DESIGN COMPILER 综合 | 第69-73页 |
·DC 简介以及 DC 综合流程 | 第69-70页 |
·约束条件以及综合结果 | 第70-73页 |
·本章小结 | 第73-74页 |
第六章 结论 | 第74-76页 |
·本文的主要贡献 | 第74页 |
·工作展望 | 第74-76页 |
致谢 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-79页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第79-80页 |