| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| ·研究意义及背景 | 第8-10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-13页 |
| ·本文的主要工作 | 第13-15页 |
| 2 TEV 产生的原理及相关理论 | 第15-25页 |
| ·TEV 产生的基本原理 | 第15-17页 |
| ·TEV 的检测方法 | 第17-19页 |
| ·TEV 的检测说明 | 第19-23页 |
| ·TEV 的读数与放电活动的关系 | 第23-24页 |
| ·小结 | 第24-25页 |
| 3 TEV 检测特性的研究 | 第25-37页 |
| ·模拟绝缘内部故障的类型 | 第25-27页 |
| ·TEV 检测的相关特性 | 第27-31页 |
| ·不同缺陷模型下的缺陷的特征 | 第31-35页 |
| ·小结 | 第35-37页 |
| 4 开关柜内部故障的检测及其定位检测 | 第37-58页 |
| ·开关柜内故障的部位及其相关原因、试验 | 第37-39页 |
| ·开关柜内的结构及其电场分析 | 第39-45页 |
| ·开关柜内典型故障缺陷的检测 | 第45-52页 |
| ·对故障点的定位及其检测结果分析 | 第52-53页 |
| ·现场检测开关柜绝缘缺陷故障 | 第53-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 5 全文总结 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |