目录 | 第1-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第8-10页 |
·低压电器产品的发展 | 第8页 |
·低压电器通断试验的的研究现状 | 第8-9页 |
·课题来源及研究内容 | 第9-10页 |
第二章 低压电器试验原理分析 | 第10-24页 |
·接通和分断能力试验 | 第10-17页 |
·短时耐受电流能力试验 | 第17-20页 |
·温升试验 | 第20-23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
第三章 罗氏线圈的工作原理分析 | 第24-36页 |
·罗氏线圈的结构特点 | 第24页 |
·罗氏线圈的感应电势的推导 | 第24-26页 |
·罗氏线圈结构和电磁参数推导 | 第26-29页 |
·罗氏线圈等效电路计算 | 第29-31页 |
·罗氏线圈分布电容的分析计算 | 第31-33页 |
·罗氏线圈的设计思路汇总 | 第33-34页 |
·罗氏线圈二次感应信号的积分还原 | 第34-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
第四章 基于PLC技术的200kA通断试验监控系统 | 第36-51页 |
·通断试验控制软件结构 | 第36-37页 |
·工控机界面设计 | 第37-38页 |
·PLC程序控制系统的研发 | 第38-40页 |
·上位机控制程序的设计 | 第40-45页 |
·PLC程序的设计 | 第45-49页 |
·本章小结 | 第49-51页 |
第五章 200kA通断试验系统工作实例 | 第51-55页 |
全文总结 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-60页 |
致谢 | 第60-61页 |
学位论文评阅及答辩情况表 | 第61页 |