全电波暗室内直接进行杂散辐射功率测量的方法研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·频谱资源的保护 | 第7-9页 |
| ·频谱资源的划分 | 第9页 |
| ·辐射功率测试 | 第9-11页 |
| ·电波暗室测量 | 第11-14页 |
| ·全电波暗室 | 第12-13页 |
| ·半电波暗室 | 第13页 |
| ·在全电波暗室内测试辐射功率 | 第13-14页 |
| ·主要研究工作 | 第14页 |
| ·本章小结 | 第14-15页 |
| 第二章 辐射发射功率替代测试法 | 第15-23页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·测试场地、测试天线和样品准备的要求 | 第15-19页 |
| ·测试场地的选择 | 第15-17页 |
| ·暗室内的寄生反射的影响 | 第17页 |
| ·测试天线的选择 | 第17-18页 |
| ·EUT 的测试条件 | 第18-19页 |
| ·功率替代法测试步骤 | 第19-22页 |
| ·第一步：信号预扫 | 第19-21页 |
| ·第二步：功率替代 | 第21-22页 |
| ·替代法分析 | 第22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 直接测量法的可行性方案研究 | 第23-29页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·改进的定义法 | 第23-25页 |
| ·预校准法 | 第25-26页 |
| ·改进的预校准方法 | 第26-27页 |
| ·各种测试方法的比较 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 直接测量系统的设计与组建 | 第29-54页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·系统硬件的选用 | 第29-44页 |
| ·EMI 测量接收机和频谱分析仪 | 第29-32页 |
| ·扫描参数作用和设置 | 第32-34页 |
| ·测量天线的确定 | 第34-39页 |
| ·射频继电器及滤波器组的选择 | 第39-44页 |
| ·空损的校准 | 第44-47页 |
| ·测试的限值及软件脚本的编制 | 第47-53页 |
| ·测试的限值 | 第47-49页 |
| ·测量带宽 | 第49-51页 |
| ·软件脚本的编制 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 结果评定 | 第54-72页 |
| ·引言 | 第54页 |
| ·空损值的比对 | 第54-58页 |
| ·空损理论值计算 | 第54-57页 |
| ·与空损实测值的比对 | 第57-58页 |
| ·测试结果比对 | 第58-59页 |
| ·测试不确定度的评定 | 第59-71页 |
| ·第一阶段空损校准输入量的评定 | 第60-65页 |
| ·第二阶段扫描测量输入量的评定 | 第65-68页 |
| ·合成标准不确定度评定 | 第68-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 结论 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |
