摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-7页 |
目录 | 第7-11页 |
图表索引 | 第11-16页 |
图索引 | 第11-15页 |
表索引 | 第15-16页 |
第一章 绪论 | 第16-27页 |
·课题背景 | 第16-21页 |
·手机的电连接故障 | 第16页 |
·电连接可靠性的重要意义 | 第16-18页 |
·我国电接触故障的特点 | 第18-19页 |
·手机电连接故障的特点 | 第19-21页 |
·相关研究 | 第21-24页 |
·尘土对电触点的影响 | 第21-22页 |
·触点的腐蚀 | 第22-23页 |
·触点的微动磨损 | 第23-24页 |
·本论文的工作和成果 | 第24-27页 |
·论文的技术思路 | 第24页 |
·论文的主要工作和创新点 | 第24-26页 |
·论文的结构 | 第26-27页 |
第二章 失效手机故障触点污染特征分析 | 第27-48页 |
·测试样品的选择 | 第27-31页 |
·失效手机样品准备 | 第27-28页 |
·手机连接器触点结构 | 第28-29页 |
·本论文手机测试样本的确定 | 第29-30页 |
·手机触点镀层厚度 | 第30-31页 |
·故障触点污染概貌 | 第31-33页 |
·测试样品和测试方法 | 第31页 |
·故障触点污染概貌 | 第31-32页 |
·跨越故障触点接触区的Ni含量检测 | 第32-33页 |
·故障触点污染物特征 | 第33-45页 |
·故障触点接触区遭到磨损 | 第33-35页 |
·PWB触点磨损区尺寸与触点污染面积相关 | 第35-36页 |
·污染物主要堆积在PWB触点接触区端部 | 第36-38页 |
·污染物中包含多种化合物 | 第38-43页 |
·污染物主要为小颗粒的堆积 | 第43-45页 |
·故障触点污染物成分的统计特征 | 第45-46页 |
·成份统计 | 第45-46页 |
·结果分析 | 第46页 |
·本章小结 | 第46-48页 |
第三章 故障触点表面污染物的电接触性能 | 第48-67页 |
·接触电阻测试方案设计 | 第48-51页 |
·测试原理 | 第48-49页 |
·测量设备及方法 | 第49-50页 |
·定位误差分析 | 第50-51页 |
·触点污染面积与接触电阻的关系 | 第51-54页 |
·测试网格间距的选取 | 第51页 |
·接触电阻与污染物的对应关系 | 第51-54页 |
·电阻值分布和污染面积的关系 | 第54页 |
·高阻值污染物特征分析 | 第54-57页 |
·污染物小区的定位 | 第55页 |
·污染物小区电阻测试 | 第55-57页 |
·结果分析 | 第57页 |
·故障触点污染物厚度的估测方法 | 第57-63页 |
·测试原理 | 第57-58页 |
·污染物厚度检测实例 | 第58-62页 |
·高阻值污染物的厚度估测 | 第62-63页 |
·故障触点接触失效模型 | 第63-66页 |
·触点微动来源分析 | 第63-65页 |
·故障触点接触失效模型 | 第65-66页 |
·本章小结 | 第66-67页 |
第四章 有机物粘结作用对触点接触性能的影响 | 第67-82页 |
·污染物中有机物的确定 | 第67-71页 |
·测试原理及设备 | 第67页 |
·测试触点的选取 | 第67-68页 |
·触点污染物的红外光谱探测 | 第68-70页 |
·其他位置的红外光谱探测 | 第70页 |
·结果分析 | 第70-71页 |
·乳酸钠来源分析 | 第71-72页 |
·乳酸钠及乳酸的性质 | 第71页 |
·汗液的红外光谱探测 | 第71-72页 |
·结果分析 | 第72页 |
·乳酸钠及乳酸的挥发试验 | 第72-75页 |
·乳酸钠挥发试验 | 第73页 |
·乳酸挥发试验 | 第73-74页 |
·结果分析 | 第74-75页 |
·乳酸钠对尘土颗粒的粘结作用 | 第75-76页 |
·触点上乳酸钠对颗粒的作用力 | 第75-76页 |
·乳酸钠对尘土的粘结试验 | 第76页 |
·小结 | 第76页 |
·乳酸钠粘结对污染物堆积的作用 | 第76-78页 |
·试验过程 | 第77页 |
·结果分析 | 第77-78页 |
·污染物堆积对触点接触性能的影响 | 第78-80页 |
·变幅值微动试验步骤 | 第79页 |
·接触电阻数据 | 第79-80页 |
·结果分析 | 第80页 |
·本章小结 | 第80-82页 |
第五章 腐蚀产物包裹尘土对触点接触性能的影响 | 第82-90页 |
·故障触点表面的腐蚀污染物 | 第82-84页 |
·触点电化学腐蚀机理 | 第82-83页 |
·故障触点表面的腐蚀产物包裹 | 第83-84页 |
·腐蚀产物包裹试验 | 第84-89页 |
·试验样片 | 第84-85页 |
·试验步骤 | 第85-86页 |
·测试结果 | 第86-88页 |
·试验结论 | 第88-89页 |
·本章小结 | 第89-90页 |
第六章 总结 | 第90-92页 |
参考文献 | 第92-100页 |
附录 | 第100-111页 |
附录A 洁净PWB触点的SEM图 | 第100-101页 |
附录B 故障触点的SEM图 | 第101-106页 |
附录C 不同污染面积BP触点磨损区的尺寸 | 第106-107页 |
附录D 故障触点表面污染物的接触电阻测试 | 第107-109页 |
附录E 不同物质标准红外光谱与故障触点污染物红外光谱的比较 | 第109-110页 |
附录F 不同故障触点污染物的红外光谱 | 第110-111页 |
致谢 | 第111-112页 |
作者攻读博士学位期间发表的学术论文目录 | 第112页 |