S波段等离子体耦合腔行波管高频结构的理论设计与实验研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| ·引言 | 第9页 |
| ·等离子体微波技术 | 第9-10页 |
| ·国外等离子体填充高功率微波器件主要实验 | 第10-13页 |
| ·相对论器件 | 第10-11页 |
| ·非相对论器件 | 第11-13页 |
| ·等离子体辅助慢波振荡器(PASOTRON) | 第11-12页 |
| ·等离子体填充耦合腔行波管 | 第12-13页 |
| ·国内相关机构的研究 | 第13页 |
| ·本文主要工作 | 第13-15页 |
| 第二章 等离子体耦合腔行波管的高频特性分析 | 第15-30页 |
| ·引言 | 第15-17页 |
| ·真空耦合腔色散分析方法 | 第17-20页 |
| ·等离子体填充耦合腔慢波结构色散分析方法 | 第20-26页 |
| ·等离子体耦合腔慢波结构物理模型 | 第21-22页 |
| ·等离子体耦合腔分析方法 | 第22-26页 |
| ·真空耦合腔耦合阻抗 | 第26-28页 |
| ·等离子体耦合腔耦合阻抗 | 第28-29页 |
| ·小结 | 第29-30页 |
| 第三章 等离子体耦合腔高频特性的仿真实验 | 第30-44页 |
| ·常用电磁仿真软件简介 | 第30-34页 |
| ·耦合腔慢波结构特性分析软件介绍 | 第31-33页 |
| ·精确度分析 | 第33-34页 |
| ·真空情况高频特性模拟仿真 | 第34-38页 |
| ·色散特性模拟 | 第34-36页 |
| ·耦合阻抗模拟 | 第36-38页 |
| ·仿真计算结果分析 | 第38-43页 |
| ·耦合槽张角为86°的高频特性模拟仿真 | 第40-41页 |
| ·耦合槽张角为100°的高频特性模拟仿真 | 第41-42页 |
| ·耦合槽张角为120°的高频特性模拟仿真 | 第42-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第四章 等离子体耦合腔链的冷测实验设计 | 第44-58页 |
| ·色散测量的三种方法 | 第44-51页 |
| ·驻波法 | 第44-46页 |
| ·行波法 | 第46-47页 |
| ·谐振法 | 第47-51页 |
| ·三种方法的比较 | 第51页 |
| ·测试系统 | 第51-52页 |
| ·耦合腔链的加工 | 第52-54页 |
| ·实验结果与分析 | 第54-56页 |
| ·小结 | 第56-58页 |
| 第五章 总结 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第63页 |
