摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
第1章 引言 | 第8-19页 |
·课题背景和意义 | 第8页 |
·课题国内外研究动态 | 第8-17页 |
·无损检测技术的发展 | 第9-10页 |
·DR 数字辐射成像技术的发展 | 第10-13页 |
·CT 计算机断层成像技术的发展 | 第13-16页 |
·辐射成像领域的最新研究热点及难点 | 第16-17页 |
·课题主要内容及研究成果 | 第17-19页 |
·本论文研究的主要内容 | 第17-18页 |
·各章内容简介 | 第18-19页 |
第2章 数字辐射成像系统介绍 | 第19-30页 |
·数字辐射成像系统基本原理 | 第19-25页 |
·射线与物质的相互作用 | 第19-22页 |
·DR 检测系统成像原理 | 第22-23页 |
·CT 检测系统成像原理 | 第23-25页 |
·箱包DR/CT 检测系统介绍 | 第25-27页 |
·集装箱 CT 检测系统介绍 | 第27-30页 |
第3章 一般辐射图像的去噪方法研究 | 第30-45页 |
·本章引论 | 第30-31页 |
·辐射图像噪声处理的目的 | 第30页 |
·图像噪声处理的传统方法 | 第30页 |
·为保持图像细节的其他噪声处理方法 | 第30-31页 |
·理论模型的建立 | 第31-38页 |
·辐射成像系统噪声的特点分析 | 第31-32页 |
·辐射图像的统计噪声 | 第32-33页 |
·辐射图像的细节信号 | 第33-35页 |
·辐射图像上点的信号模型 | 第35-36页 |
·最优噪声处理 | 第36页 |
·极限情况的分析 | 第36页 |
·自适应平滑去噪模型的设计 | 第36-37页 |
·自适应平滑去噪模型的分析 | 第37-38页 |
·模型参数的估计 | 第38-39页 |
·图像上任意一点处的信号特征的估计 | 第38-39页 |
·图像的变换常数k 的估计 | 第39页 |
·自适应平滑去噪方法步骤 | 第39-40页 |
·实验结果及讨论 | 第40-43页 |
·辐射图像的去噪效果对比 | 第40-41页 |
·实验结果的边缘检测对比 | 第41-43页 |
·本章小结 | 第43-45页 |
第4章 CT 重建图像环形伪影的消除 | 第45-54页 |
·本章引论 | 第45-48页 |
·工业CT 系统简介 | 第45页 |
·CT 环形伪影的定义及其产生原因 | 第45-46页 |
·CT 图像环形伪影的特点 | 第46-47页 |
·当前处理CT 图像环形伪影的方法 | 第47-48页 |
·方法说明 | 第48-52页 |
·一般平滑方法的处理方式 | 第48页 |
·图像由直角坐标到极坐标的转换 | 第48-49页 |
·极坐标下的单向自适应平滑处理 | 第49-51页 |
·图像处理的结果由极坐标到直角坐标的转换 | 第51页 |
·处理步骤综述 | 第51-52页 |
·结果与讨论 | 第52-53页 |
·本章小结 | 第53-54页 |
第5章 结论 | 第54-56页 |
·研究总结 | 第54-55页 |
·需进一步开展的工作 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-58页 |
致谢 | 第58-59页 |
附录A CT 重建图像环形伪影的消除 Matlab 源代码 | 第59-64页 |
A.1 文件ImageCart2Pol.m | 第59-60页 |
A.2 文件ImageP012Cart.m | 第60-61页 |
A.3 文件MagMat.m | 第61页 |
A.4 文件ReduceRingArtifacts.m | 第61-64页 |
个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第64页 |