| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-27页 |
| ·银基金属氧化物电接触材料概述 | 第9-14页 |
| ·电接触的定义、现象和问题 | 第9页 |
| ·电接触材料的发展 | 第9-10页 |
| ·银基金属氧化物触头材料概述 | 第10-14页 |
| ·电接触材料的基本特性及要求 | 第14-18页 |
| ·物理性质 | 第15页 |
| ·化学性能 | 第15页 |
| ·电接触性能 | 第15-18页 |
| ·银基金属氧化物触头材料的电弧侵蚀机理 | 第18-23页 |
| ·电弧侵蚀机理 | 第18-19页 |
| ·电弧侵蚀的微观作用机理 | 第19-21页 |
| ·触头材料在电弧作用下的失效 | 第21-23页 |
| ·触头材料在电弧作用下失效的形式 | 第21-22页 |
| ·电弧对触头材料的影响 | 第22-23页 |
| ·触头材料设计的新思路 | 第23-25页 |
| ·银基ZnO晶须触头材料的制备 | 第23-24页 |
| ·梯度银基金属氧化物触头材料 | 第24-25页 |
| ·本文的选题背景和主要研究内容 | 第25-27页 |
| ·选题背景 | 第25-26页 |
| ·主要研究内容 | 第26-27页 |
| 第2章 材料制备及实验方法 | 第27-35页 |
| ·传统粉末冶金法制备银基电接触材料 | 第27-29页 |
| ·工艺参数和制备过程 | 第27-29页 |
| ·制备的样品及基本物理性能 | 第29页 |
| ·流延法制备银基功能梯度材料 | 第29-34页 |
| ·辅助材料 | 第30页 |
| ·浆料制备工艺过程 | 第30-31页 |
| ·影响流延膜厚度的因素 | 第31-32页 |
| ·成型、烧结工艺 | 第32页 |
| ·流延法制备样品的物理性能 | 第32-33页 |
| ·影响流延膜质量的因素及改进措施 | 第33-34页 |
| ·测试设备 | 第34-35页 |
| 第3章 银基氧化锌晶须(Ag/ZnO_W)触头的探索 | 第35-42页 |
| ·基本物理性能 | 第35-37页 |
| ·ZnO_W的基本特征及性能 | 第35-36页 |
| ·触头材料的基本性能分析 | 第36-37页 |
| ·触头的电接触性能分析 | 第37-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 Ag/SnO_2/ZnO_W梯度触头材料的研究 | 第42-50页 |
| ·触头材料的基本性能分析 | 第42-43页 |
| ·触头的电接触性能分析 | 第43-48页 |
| ·本章小结 | 第48-50页 |
| 第5章 Ag/La_2O_3/ZnO_W梯度触头材料的研究 | 第50-58页 |
| ·触头材料的基本性能分析 | 第50-51页 |
| ·触头的电接触性能分析 | 第51-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 总结 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 攻读硕士学位期间完成的论文目录 | 第65页 |
