| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-35页 |
| ·磁记录的概况 | 第8-10页 |
| ·磁记录的发展 | 第10-13页 |
| ·磁记录技术面临的问题及解决方案 | 第13-24页 |
| ·磁记录介质的重要参量 | 第24-31页 |
| ·研究工作及目的 | 第31-35页 |
| 第二章 薄膜的制备方法及测试 | 第35-56页 |
| ·薄膜的制备工艺 | 第35-42页 |
| ·薄膜的基本测试及原理 | 第42-50页 |
| ·样品的制备与测试 | 第50-56页 |
| 第三章 Ti衬底层系列样品的微结构和磁特性 | 第56-87页 |
| ·退火温度对 FePt薄膜的微结构和磁特性的影响 | 第56-64页 |
| ·Ti衬底层对 FePt薄膜的微结构和磁特性的影响 | 第64-72页 |
| ·退火温度对 FePtTi薄膜的微结构和磁特性的影响 | 第72-81页 |
| ·C覆盖层对 FePt/Ti薄膜的微结构和磁特性的影响 | 第81-87页 |
| 第四章 Fe衬底层系列样品的微结构和磁特性 | 第87-100页 |
| ·C覆盖层对 FePt/Fe薄膜的微结构和磁特性的影响 | 第87-94页 |
| ·Ti保护层对 FePt/Fe薄膜的微结构和磁特性的影响 | 第94-100页 |
| 第五章 结论 | 第100-102页 |
| 参考文献 | 第102-113页 |
| 硕士期间发表论文情况 | 第113-114页 |
| 致谢 | 第114页 |
