| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 目录 | 第10-13页 |
| 图表目录 | 第13-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-32页 |
| ·三维测距理论 | 第15-24页 |
| ·被动立体测定技术 | 第15-19页 |
| ·主动立体测定技术 | 第19-24页 |
| ·三维测距技术的现状与未来 | 第24页 |
| ·实用测量方法综述 | 第24-28页 |
| ·几种典型的测距方法 | 第25-28页 |
| ·国内外测量技术的发展 | 第28-29页 |
| ·国外发展与现状 | 第28-29页 |
| ·国内发展与现状 | 第29页 |
| ·论文研究的主要内容和研究意义 | 第29-32页 |
| ·研究内容 | 第29-30页 |
| ·主要技术难点 | 第30-31页 |
| ·研究意义 | 第31-32页 |
| 第二章 导弹装填车与发射车之间相对空间位置测量方法研究 | 第32-67页 |
| ·线阵 CCD扫描测量法 | 第32-43页 |
| ·方案设计依据 | 第32-35页 |
| ·光学系统设计的特点 | 第35-37页 |
| ·系统测量原理 | 第37-38页 |
| ·三角法工作原理 | 第38-40页 |
| ·后交会法工作原理 | 第40-43页 |
| ·面阵CCD交会测量法 | 第43-54页 |
| ·理论依据 | 第43-47页 |
| ·坐标系定义 | 第47-51页 |
| ·面阵 CCD交会测量法工作原理 | 第51-54页 |
| ·几种测量方法的比较 | 第54-67页 |
| ·误差计算理论 | 第54-55页 |
| ·线阵 CCD旋转扫描测量法的精度计算 | 第55-59页 |
| ·线阵 CCD后交会测量法的精度计算 | 第59-61页 |
| ·面阵 CCD交会测量法的精度计算 | 第61-67页 |
| 第三章 测量精度理论分析 | 第67-78页 |
| ·影响摄像机分辨率的因素 | 第67-69页 |
| ·成像系统分辨率 | 第67-68页 |
| ·影响摄像机分辨率的因素 | 第68-69页 |
| ·影响测量精度的几个主要因素 | 第69-71页 |
| ·成像系统几何畸变误差 | 第69-70页 |
| ·成像系统的噪声 | 第70-71页 |
| ·光学测量系统误差研究 | 第71-74页 |
| ·成像系统几何畸变 | 第71-72页 |
| ·图像坐标测量误差 | 第72-73页 |
| ·采样点测量精度的影响 | 第73页 |
| ·像平面与光电接收面不重合误差 | 第73-74页 |
| ·亚像素定位技术 | 第74-78页 |
| ·亚像素定位技术的应用意义 | 第74页 |
| ·亚像素定位技术基本原理 | 第74-75页 |
| ·应用亚像素技术的条件 | 第75页 |
| ·亚像素定位方法种类 | 第75页 |
| ·灰度重心定位法 | 第75-78页 |
| 第四章 线阵 CCD摄像系统精度标定 | 第78-86页 |
| ·线阵CCD旋转扫描测量法的精度标定 | 第78-86页 |
| ·线阵 CCD扫描系统的精度标定理论 | 第78-80页 |
| ·位置检测装置各单项差的调整 | 第80-81页 |
| ·线阵 CCD成像系统标定 | 第81-86页 |
| 第五章 面阵 CCD摄像机定标方法研究 | 第86-108页 |
| ·面阵 CCD交会测量法的摄像机定标 | 第86-98页 |
| ·摄像机定标概述 | 第87-88页 |
| ·摄像机定标应用 | 第88页 |
| ·摄像机成像模型 | 第88-91页 |
| ·小孔成像原理 | 第91-92页 |
| ·四个坐标系 | 第92-94页 |
| ·线性模型定标与非线性模型定标 | 第94-95页 |
| ·典型的传统定标法——Tsai的两步法 | 第95-98页 |
| ·算法流程 | 第98页 |
| ·摄像机旋转定标法 | 第98-108页 |
| ·实验方法 | 第98-99页 |
| ·实验原理 | 第99-100页 |
| ·实验过程 | 第100-104页 |
| ·实验结果与分析 | 第104-105页 |
| ·实验方法二 | 第105-106页 |
| ·两种不同实验方法的比较 | 第106-108页 |
| 第六章 总结与展望 | 第108-111页 |
| ·全文总结 | 第108-109页 |
| ·进一步工作展望 | 第109-111页 |
| 参考文献 | 第111-117页 |
| 攻读博士期间论文发表情况 | 第117-118页 |
| 作者简历 | 第118-119页 |
| 致谢 | 第119-120页 |