| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·SoC 测试面临的挑战 | 第7-8页 |
| ·SoC 测试策略和难点 | 第8-10页 |
| ·论文结构 | 第10-11页 |
| 第二章 JTAG接口及ARM核的测试 | 第11-28页 |
| ·JTAG 接口简介 | 第11-15页 |
| ·边界扫描 | 第11页 |
| ·Tap 控制器 | 第11-14页 |
| ·指令寄存器、公共指令以及数据寄存器 | 第14-15页 |
| ·ARMcore 的测试和调试 | 第15-28页 |
| ·ARM7TDMI 的指令寄存器和常用的JTAG 指令 | 第16-17页 |
| ·ARM7TDMI 的扫描链结构 | 第17-18页 |
| ·EmbeddedICE-RT 逻辑的访问 | 第18-21页 |
| ·在ARM 指令流水线中插入指令 | 第21-23页 |
| ·ARMcore 的JTAG 测试 | 第23-28页 |
| 第三章 存储器内建自测试MBIST | 第28-53页 |
| ·存储器故障模型 | 第28-36页 |
| ·单故障模型 | 第30-35页 |
| ·多故障模型 | 第35-36页 |
| ·存储器测试算法 | 第36-37页 |
| ·测试算法的复杂度 | 第36-37页 |
| ·测试算法的有效性 | 第37页 |
| ·MBIST 的设计 | 第37-52页 |
| ·CAM 的测试 | 第39-42页 |
| ·JTAG 的扩展 | 第42-46页 |
| ·MBIST 设计方法和难点 | 第46-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第四章 测试矢量的压缩和整合 | 第53-58页 |
| ·MBIST 与ARMcore 测试矢量的整合 | 第53-56页 |
| ·仿真波形与测试结果 | 第56-58页 |
| 第五章 总结与展望 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 研究生期间发表论文 | 第63页 |