| 第一章 绪论 | 第1-17页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·微波介质陶瓷的应用和性能要求 | 第10-12页 |
| ·微波介质陶瓷的应用 | 第10-11页 |
| ·微波介质陶瓷的性能要求 | 第11-12页 |
| ·微波介质陶瓷的发展与研究现状 | 第12-15页 |
| ·发展概况 | 第12-13页 |
| ·微波介质陶瓷的分类 | 第13-14页 |
| ·新型微波陶瓷的研究开发 | 第14-15页 |
| ·本论文的主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第二章 实验可行性分析 | 第17-21页 |
| ·原材料的选择 | 第17页 |
| ·容限因子分析 | 第17-19页 |
| ·类钙钛矿结构容限因子分析 | 第17-18页 |
| ·各化合物的容限因子 | 第18-19页 |
| ·电负差讨论 | 第19-21页 |
| 第三章 材料的制备 | 第21-26页 |
| ·实验原料及设备 | 第21页 |
| ·材料的制备方法 | 第21-22页 |
| ·材料的制备程序 | 第22-26页 |
| ·原料的配比和称量 | 第22-23页 |
| ·研磨混合 | 第23页 |
| ·高温合成 | 第23-24页 |
| ·粉体造粒 | 第24页 |
| ·干压成型 | 第24页 |
| ·预烧排胶 | 第24页 |
| ·烧结 | 第24-25页 |
| ·表面处理 | 第25-26页 |
| 第四章 样品的烧结性能与密度分析 | 第26-29页 |
| ·阿基米德排水法简介 | 第26页 |
| ·烧结温度对密度的影响 | 第26-29页 |
| 第五章 结构分析 | 第29-45页 |
| ·X射线显微分析 | 第29-37页 |
| ·X射线显微分析原理 | 第29-32页 |
| ·各化合物的X射线分析 | 第32-37页 |
| ·Ba_3LaNb_3O_(12)的X射线分析 | 第32-33页 |
| ·Ba_2La_2TiNb_2O_(12)的X射线分析 | 第33-35页 |
| ·BaLa_3Ti_2NbO_(12)的X射线分析 | 第35-37页 |
| ·拉曼光谱分析 | 第37-39页 |
| ·光学显微镜分析 | 第39-40页 |
| ·扫描电镜显微分析 | 第40-43页 |
| ·Ba_3LaNb_3O_(12)的X射线分析 | 第40-41页 |
| ·Ba_2La_2TiNb_2O_(12)的扫描照片 | 第41-42页 |
| ·BaLa_3Ti_2NbO_(12)的扫描电镜照片 | 第42-43页 |
| ·化学分析 | 第43-45页 |
| 第六章 介电测试与分析 | 第45-61页 |
| ·电介质极化原理简述 | 第45-51页 |
| ·极化与介电常数 | 第45-48页 |
| ·弹性位移极化 | 第46-47页 |
| ·松弛极化 | 第47-48页 |
| ·陶瓷材料的介电损耗 | 第48-49页 |
| ·介电常数的温度系数 | 第49-50页 |
| ·测试方法 | 第50-51页 |
| ·Ba_3LaNb_3O_(12)陶瓷的介电性能研究 | 第51-52页 |
| ·Ba_3LaNb_3O_(12)低频介电性能测试 | 第51页 |
| ·Ba_3LaNb_3O_12微波介电性能测试 | 第51-52页 |
| ·Ba_2La_2TiNb_2O_(12)陶瓷的介电性能研究 | 第52-54页 |
| ·Ba_2La_2TiNb_2O_(12)低频介电性能测试 | 第52-53页 |
| ·Ba_2La_2TiNb_2O_(12)微波介电性能测试 | 第53-54页 |
| ·BaLa_3Ti_2NbO_(12)陶瓷的介电性能研究 | 第54-56页 |
| ·BaLa_3Ti_2NbO_(12)低频介电性能测试 | 第54-55页 |
| ·BaLa_3Ti_2NbO_(12)微波介电性能测试 | 第55-56页 |
| ·Ba_(3-x)La_(1+x)Ti_xNb_(3-x)O_(12)陶瓷的介电性能研究 | 第56-61页 |
| ·介电常数随La的取代量的变化 | 第56-58页 |
| ·品质因子随x的变化 | 第58-59页 |
| ·频率温度系数随x的变化 | 第59-61页 |
| 第七章 结论与展望 | 第61-63页 |
| ·结论 | 第61-62页 |
| ·展望 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-68页 |
| 攻读硕士研究生期间论文发表情况 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
