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MOCVD法生长硅基六方相GaN薄膜及其性质研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-8页
目录第8-11页
第一章 前言第11-13页
第二章 文献综述第13-36页
   ·GaN的基本性质第13-16页
   ·GaN材料生长技术第16-22页
     ·金属有机物化学汽相沉积(Metal-Organic Chemical Vapor Deposition)第17-19页
     ·分子束外延(Molecular Beam Epitaxy)第19-20页
     ·卤化物汽相外延(Hybride Vapor Phase Epitaxy)第20页
     ·横向外延过生长(Epitaxial Lateral Overgrowth)第20-22页
   ·GaN材料掺杂第22-23页
     ·GaN的n型掺杂第22-23页
     ·GaN的p型掺杂第23页
   ·GaN基器件应用第23-27页
     ·光电子器件应用第24-26页
     ·微电子器件应用第26-27页
   ·硅基GaN材料发展及应用前景第27-30页
     ·硅基GaN生长的关键问题第28页
     ·工艺的改进第28-29页
     ·硅衬底GaN基LED研究进展第29-30页
   ·立题思路及主要研究工作第30-31页
 参考文献第31-36页
第三章 氮化镓MOCVD生长系统第36-44页
   ·MOCVD材料生长机理第36页
   ·自制MOCVD设备第36-39页
   ·MOCVD设备的优化设计第39-40页
   ·实验前的准备步骤第40-43页
     ·衬底的清洗第40-41页
     ·有机源的选择第41-42页
     ·管路和腔体的冲洗第42-43页
   ·材料的表征第43页
 参考文献第43-44页
第四章 硅基GaN薄膜生长研究第44-63页
   ·引言第44页
   ·GaN外延生长工艺第44-46页
     ·两步外延生长工艺第45页
     ·实验步骤第45-46页
   ·GaN生长机制研究第46-53页
     ·GaN与Si(111)外延关系第46-48页
     ·GaN生长中的形核过程第48-50页
     ·GaN薄膜生长模型第50-53页
   ·缓冲层对GaN生长的影响第53-56页
   ·载气对GaN生长的影响第56-59页
   ·镓源流速(Ⅴ/Ⅲ)对GaN生长的影响第59-61页
   ·本章小结第61页
 参考文献第61-63页
第五章 硅基GaN薄膜性质研究第63-81页
   ·GaN的缺陷研究第63-71页
     ·GaN外延层的微裂纹第63-64页
     ·GaN外延层中线位错的产生第64-65页
     ·X射线衍射分析GaN外延层中的位错密度第65-68页
     ·GaN表面形貌分析第68-71页
   ·GaN的光致发光第71-73页
   ·GaN的拉曼光谱第73-75页
   ·GaN的电学性质第75-76页
   ·Al_xGa_(1-x)N三元合金第76-78页
   ·本章小结第78页
 参考文献第78-81页
第六章 结论第81-82页
第七章 对今后工作的一些思考第82-83页
致谢第83-84页
硕士在读期间发表文章第84页

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