| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-10页 |
| 第二章 纳米多孔薄膜参数的测量原理 | 第10-23页 |
| 2-1 纳米材料的特性 | 第10-11页 |
| 2-2 纳米多孔氧化硅薄膜的制备 | 第11页 |
| 2-3 纳米多孔氧化硅薄膜的特点 | 第11-12页 |
| 2-4 纳米多孔氧化硅薄膜参数的测量原理 | 第12-23页 |
| 第三章 光电检测技术在系统中的实现 | 第23-32页 |
| 3-1 系统的基本结构 | 第23页 |
| 3-2 系统的硬件设计 | 第23-28页 |
| 3-3 系统的软件设计 | 第28-32页 |
| 第四章 系统测试与分析 | 第32-40页 |
| 4-1 系统参数的测试 | 第32-38页 |
| 4-2 系统测试分析 | 第38-40页 |
| 第五章 结论和展望 | 第40-41页 |
| 附录 硕士期间发表的论文 | 第41-42页 |
| 参考文献 | 第42-44页 |
| 致谢 | 第44页 |