| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| ·论文的研究背景 | 第8-10页 |
| ·国内外研究现状及发展趋势 | 第10-11页 |
| ·研究内容 | 第11-12页 |
| 第2章 试验原理 | 第12-17页 |
| ·流量补充法 | 第12页 |
| ·流量补充法试验原理 | 第12页 |
| ·流量补充法试验步骤 | 第12页 |
| ·流量收集法 | 第12-13页 |
| ·流量收集法试验原理 | 第12-13页 |
| ·流量收集法试验步骤 | 第13页 |
| ·压力下降法 | 第13-14页 |
| ·压力下降法试验原理 | 第13页 |
| ·压力下降法试验步骤 | 第13-14页 |
| ·其它方法 | 第14-15页 |
| ·各方法的比较 | 第15页 |
| ·各方法对仪器的要求 | 第15-16页 |
| ·流量补充法对仪器的要求 | 第15页 |
| ·流量收集法对仪器的要求 | 第15页 |
| ·压力下降法对仪器的要求 | 第15-16页 |
| ·各方法要求的兼顾 | 第16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 第3章 仪器的硬件设计 | 第17-28页 |
| ·总体设计 | 第17-18页 |
| ·电路系统设计 | 第18-24页 |
| ·设计框架 | 第18页 |
| ·单片机选型 | 第18-20页 |
| ·流量计选型 | 第20-23页 |
| ·压力计选型 | 第23-24页 |
| ·其它部件选型 | 第24页 |
| ·气路系统设计 | 第24-25页 |
| ·设计框架 | 第24-25页 |
| ·气路部件选型 | 第25页 |
| ·仪器外观 | 第25-27页 |
| ·前面板 | 第25-26页 |
| ·后面板 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第4章 仪器的软件设计 | 第28-38页 |
| ·仪器软件设计 | 第28-33页 |
| ·选用C51汇编语言开发 | 第28页 |
| ·主单片机主程序框架 | 第28-29页 |
| ·从单片机主程序框架 | 第29-31页 |
| ·键盘子程序框架 | 第31-33页 |
| ·上位机软件设计 | 第33-37页 |
| ·选用VEE开发 | 第33页 |
| ·程序功能 | 第33-35页 |
| ·试验期望值 | 第35页 |
| ·程序测量的自动判定 | 第35-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第5章 仪器测量试验 | 第38-41页 |
| ·仪器单独测量 | 第38页 |
| ·联合测量 | 第38-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 结论 | 第41-42页 |
| 附录 | 第42-53页 |
| 附录1 STC12C5410与普通8051指令执行时间对比 | 第42-47页 |
| 附录2 上位机程序试验数据 | 第47-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的论文 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 个人简历 | 第59页 |