带有全息滤光片的激光共焦扫描系统用于基因芯片检测的实验研究
| 一、 引言 | 第1-17页 |
| 1．1 基因芯片工作原理 | 第9-12页 |
| 1．1．1 基因芯片的类型和制作 | 第10-11页 |
| 1．1．2 芯片的杂交和反应 | 第11页 |
| 1．1．3 芯片的检测 | 第11-12页 |
| 1．2 常用的基因芯片扫读设备 | 第12-15页 |
| 1．2．1 CCD芯片扫描仪 | 第12-13页 |
| 1．2．2 激光共聚焦芯片扫描仪 | 第13-15页 |
| 1．3 本文主要研究内容及结论 | 第15-17页 |
| 二、 带有全息滤光片的激光共焦扫描系统的设计 | 第17-30页 |
| 2．1 光源 | 第17-18页 |
| 2．2 共焦扫描系统 | 第18-20页 |
| 2．2．1 共焦扫描系统原理 | 第18-19页 |
| 2．2．2 扫描方式 | 第19页 |
| 2．2．3 物镜 | 第19-20页 |
| 2．2．4 分辨率 | 第20页 |
| 2．3 Cy5荧光染料 | 第20-22页 |
| 2．4 反射全息滤光片 | 第22-27页 |
| 2．4．1 反射全息滤光片的特点 | 第22-23页 |
| 2．4．2 反射全息滤光片的制作 | 第23-24页 |
| 2．4．3 反射全息滤光片的测量 | 第24页 |
| 2．4．4 反射全息滤光片在本系统中的作用 | 第24-27页 |
| 2．5 数控的二维扫描平台 | 第27-28页 |
| 2．6 光电检测系统 | 第28页 |
| 2．7 计算机采样与数据图象转换系统 | 第28-29页 |
| 2．8 实际搭制的系统 | 第29-30页 |
| 三、 系统的调试 | 第30-36页 |
| 3．1 光学系统调试 | 第30-32页 |
| 3．1．1 光路调试 | 第30页 |
| 3．1．2 对焦 | 第30-31页 |
| 3．1．3 加设立体光阑 | 第31-32页 |
| 3．2 扫描采样系统调试 | 第32-35页 |
| 3．2．1 X-Y扫描平台走速及采样速度调试 | 第32页 |
| 3．2．2 采样间隔及Y方向分辨率的确定 | 第32-35页 |
| 3．3 光电检测部分电压调试 | 第35-36页 |
| 四、 对荧光信号的检测结果及分析 | 第36-46页 |
| 4．1 静态测试 | 第36-38页 |
| 4．1．1 系统灵敏度的测定 | 第36-37页 |
| 4．1．2 对芯片的静态测试 | 第37-38页 |
| 4．2 动态测试 | 第38-42页 |
| 4．2．1 自涂荧光玻片的测试 | 第38-39页 |
| 4．2．2 对基因芯片的扫描检测 | 第39-42页 |
| 4．3 检测结果分析及讨论 | 第42-46页 |
| 4．3．1 结果分析 | 第42-43页 |
| 4．3．2 讨论 | 第43-46页 |
| 五、 结论 | 第46-47页 |
| 六、 展望 | 第47-48页 |
| 七、 致谢 | 第48-49页 |
| 八、 参考文献 | 第49-52页 |
| 九、 发表论文 | 第52-53页 |
| 附录一 | 第53-55页 |
| 附录二 | 第55-57页 |
