薄膜温差电材料电沉积设备及性能测试系统的设计与制造
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-22页 |
| ·前言 | 第7-8页 |
| ·热电材料理论基础 | 第8-11页 |
| ·塞贝克效应 | 第8-9页 |
| ·帕尔帖效应 | 第9页 |
| ·汤姆逊效应 | 第9-10页 |
| ·温差电优值 | 第10-11页 |
| ·薄膜温差电材料的制备 | 第11-12页 |
| ·化学气相生长法 | 第11页 |
| ·物理气相沉积法 | 第11页 |
| ·电沉积法 | 第11-12页 |
| ·温差电材料研究现状及发展趋势 | 第12-16页 |
| ·方钴矿类（Skutterudites）热电材料 | 第12-13页 |
| ·Clathrates 笼形化合物热电材料 | 第13-14页 |
| ·HaIf-Heusler 热电材料 | 第14-15页 |
| ·准晶材料 | 第15-16页 |
| ·功能梯度材料(FGM) | 第16页 |
| ·温差电材料的应用 | 第16-21页 |
| ·航空航天领域应用 | 第17-18页 |
| ·军事领域的应用 | 第18页 |
| ·医学领域中的应用 | 第18-19页 |
| ·生活领域中的应用 | 第19-20页 |
| ·生产领域中的应用 | 第20-21页 |
| ·本论文的研究内容与意义 | 第21-22页 |
| ·研究内容 | 第21页 |
| ·研究意义 | 第21-22页 |
| 第二章 薄膜温差电材料电沉积设备的设计及制造 | 第22-43页 |
| ·前言 | 第22页 |
| ·工作原理 | 第22-23页 |
| ·电沉积设备的设计 | 第23-40页 |
| ·硬件设计 | 第23-38页 |
| ·软件设计 | 第38-40页 |
| ·电沉积设备的应用 | 第40-42页 |
| ·应用 | 第40-41页 |
| ·误差分析 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第三章 薄膜温差电材料电阻率测试系统 | 第43-63页 |
| ·测试方法的选择 | 第43页 |
| ·薄膜温差电材料的特性 | 第43页 |
| ·测试方法的选择 | 第43页 |
| ·测试原理 | 第43-46页 |
| ·测试系统设计 | 第46-58页 |
| ·卡具设计 | 第47-48页 |
| ·电路设计 | 第48-57页 |
| ·软件设计 | 第57-58页 |
| ·测试系统的建立 | 第58-59页 |
| ·测试系统的应用 | 第59-61页 |
| ·测试条件 | 第59-60页 |
| ·测试结果 | 第60-61页 |
| ·测试误差 | 第61页 |
| ·本章小结 | 第61-63页 |
| 第四章 总结 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
