| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-16页 |
| ·引言 | 第13页 |
| ·课题研究背景 | 第13-14页 |
| ·课题主要工作和论文组织结构 | 第14-16页 |
| 第二章 NFC(近场通信)概述 | 第16-21页 |
| ·RHD通信系统简介 | 第16-17页 |
| ·近耦合系统(close coupling systems | 第16页 |
| ·远耦合系统(：Remote coupling systems) | 第16-17页 |
| ·远距离系统(Long raaage systems) | 第17页 |
| ·RFID的工作频带 | 第17页 |
| ·NFc技术简介 | 第17-18页 |
| ·NFC标准及其推广组织 | 第17-18页 |
| ·NFC技术特点 | 第18页 |
| ·NFC的应用 | 第18-21页 |
| ·身份识别 | 第18-19页 |
| ·票务系统 | 第19页 |
| ·收费系统 | 第19-20页 |
| ·自动化和物流 | 第20-21页 |
| 第三章 NFC的数据传输协议与芯片的工作模式 | 第21-32页 |
| ·数据调制模式 | 第21-24页 |
| ·ASK(幅度)调制 | 第21-22页 |
| ·FSK(频率)调制 | 第22-23页 |
| ·PSK(相位)调制 | 第23-24页 |
| ·ISO／IEC 14443-2协议 | 第24-25页 |
| ·读写器到标签（PCD to PICC） | 第24-25页 |
| ·标签到读写器（PICC to PCD） | 第25页 |
| ·NFC芯片的工作模式 | 第25-32页 |
| ·读写模式 | 第26-28页 |
| ·卡工作模式 | 第28-29页 |
| ·NFCIP-1模式 | 第29-32页 |
| 第四章 读写器调制电路设计与仿真 | 第32-41页 |
| ·包络调整模块 | 第32-34页 |
| ·发射模块 | 第34-38页 |
| ·发送模式控制子模块 | 第35-37页 |
| ·驱动控制时钟子模块 | 第37-38页 |
| ·发射驱动子模块 | 第38页 |
| ·读卡器调制电路仿真结果 | 第38-41页 |
| 第五章 读写器解调电路设计与仿真 | 第41-50页 |
| ·解调电路设计思路 | 第41-42页 |
| ·解调电路各模块电路设计与仿真 | 第42-49页 |
| ·混频、滤波和放大模块 | 第42-44页 |
| ·积分模块 | 第44-45页 |
| ·采样、保持模块 | 第45-47页 |
| ·位解码模块 | 第47-49页 |
| ·仿真结果 | 第49-50页 |
| 第六章 读写器时钟电路设计与仿真 | 第50-61页 |
| ·IQ时钟产生模块设计与仿真 | 第50-57页 |
| ·移位寄存模块 | 第51-54页 |
| ·译码模块 | 第54-55页 |
| ·延时模块 | 第55-56页 |
| ·反馈模块 | 第56-57页 |
| ·IO时钟产生模块整体仿真 | 第57页 |
| ·四相位时钟产生模块的设计与仿真 | 第57-58页 |
| ·分频时钟产生模块的设计与仿真 | 第58-59页 |
| ·窄咏冲与非交叠时钟产生模块的设计与仿真 | 第59-61页 |
| 第七章 RFlD标签模拟前端电路设计 | 第61-67页 |
| ·电源产生电路的设计 | 第63-64页 |
| ·上电复位电路的设计 | 第64-65页 |
| ·解调电路的设计 | 第65-66页 |
| ·时钟提取电路 | 第66-67页 |
| 第八章 系统仿真与版图设计 | 第67-77页 |
| ·读写器时钟电路与解调电路联合仿真 | 第67-73页 |
| ·混频、滤波和放大模块联合仿真 | 第67-68页 |
| ·积分模块联合仿真 | 第68-70页 |
| ·采样保持模块联合仿真 | 第70-72页 |
| ·位解码模块联合仿真 | 第72-73页 |
| ·读写器时钟电路与解调电路版图设计 | 第73-75页 |
| ·FloorPlan设计 | 第73-74页 |
| ·版图设计 | 第74-75页 |
| ·读写器调制电路版图设计 | 第75-76页 |
| ·RHD标签电路版图 | 第76-77页 |
| 第九章 NFC芯片的测试 | 第77-93页 |
| ·电磁场相关理论 | 第77-80页 |
| ·磁通量密度 | 第77页 |
| ·磁场强度 | 第77-78页 |
| ·电感 | 第78页 |
| ·互感 | 第78-79页 |
| ·耦合系数 | 第79页 |
| ·法拉第定律 | 第79页 |
| ·共振电路 | 第79-80页 |
| ·天线简介 | 第80-82页 |
| ·近耦合和远耦合系统的天线 | 第80-82页 |
| ·远距离系统的天线 | 第82页 |
| ·NFC测试配置和流程 | 第82-90页 |
| ·测试参数 | 第82-83页 |
| ·测试装置 | 第83-84页 |
| ·测量线圈 | 第84页 |
| ·感应线圈 | 第84-85页 |
| ·场产生天线 | 第85-86页 |
| ·阻抗匹配网络 | 第86页 |
| ·参照装置 | 第86-88页 |
| ·测试流程 | 第88-90页 |
| ·测试过程与结果 | 第90-93页 |
| ·测试平台 | 第90-91页 |
| ·读写器到标签(PCD to PICC)的测试 | 第91-92页 |
| ·标签到读写器(PCD to PICC)的测试 | 第92-93页 |
| 第十章 结束语 | 第93-94页 |
| ·总结 | 第93页 |
| ·展望 | 第93-94页 |
| 参考文献 | 第94-96页 |
| 致谢 | 第96-97页 |
| 攻读硕士学位期间己发表或录用的论文 | 第97-99页 |
