基于旋光色散原理的波长鉴别技术研究
| 中文摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-6页 |
| 第1章 绪论 | 第6-15页 |
| ·波长鉴别技术的研究背景 | 第6-9页 |
| ·波长鉴别技术的分类及特点 | 第6-8页 |
| ·波长鉴别技术的发展趋势 | 第8-9页 |
| ·ARM处理器介绍 | 第9-14页 |
| ·ARM处理器系列及体系架构版本 | 第10-13页 |
| ·波长鉴别技术中选择ARM处理器的理由 | 第13-14页 |
| ·论文研究的意义及内容 | 第14-15页 |
| 第2章 光波的基本性质和旋光理论基础 | 第15-24页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·光波的基本性质 | 第15-19页 |
| ·光的传播 | 第16-17页 |
| ·光的反射和折射 | 第17-19页 |
| ·光的偏振理论 | 第19-21页 |
| ·光的偏振现象及其应用 | 第19-20页 |
| ·偏振态的定义与分类 | 第20-21页 |
| ·旋光色散理论 | 第21-23页 |
| ·旋光现象及其原理 | 第21-22页 |
| ·旋光色散的实验系统 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 S3C2440在波长鉴别系统中的应用 | 第24-35页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·S3C2440介绍 | 第24-26页 |
| ·S3C2440基本参数及性能特点 | 第24-26页 |
| ·S3C2440的应用领域 | 第26页 |
| ·操作系统的选择及开发平台的建立 | 第26-34页 |
| ·操作系统的选择 | 第26-27页 |
| ·系统开发平台的建立 | 第27-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 波长鉴别系统的构成及实验结果 | 第35-52页 |
| ·引言 | 第35页 |
| ·测量系统的结构 | 第35-47页 |
| ·外围电路板结构 | 第35-44页 |
| ·SPI总线及其驱动程序 | 第44-47页 |
| ·应用程序源代码 | 第47页 |
| ·测量结果 | 第47-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 总结与展望 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-60页 |
| 附录 | 第60-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
