工业锥束CT伪影校正方法研究
| 表目录 | 第1-7页 |
| 图目录 | 第7-9页 |
| 摘要 | 第9-10页 |
| ABSTRACT | 第10-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-22页 |
| ·课题研究背景与意义 | 第12-13页 |
| ·工业锥束CT系统概述 | 第13-15页 |
| ·蒙特卡罗方法 | 第15-17页 |
| ·国内外研究现状 | 第17-20页 |
| ·散射伪影与校正 | 第17-19页 |
| ·金属伪影及其校正 | 第19-20页 |
| ·课题研究内容与论文结构安排 | 第20-22页 |
| 第二章 锥束CT伪影形成因素分析 | 第22-36页 |
| ·散射伪影 | 第22-27页 |
| ·散射的物理特点 | 第22-24页 |
| ·基于蒙特卡罗方法的散射模拟 | 第24-25页 |
| ·散射伪影的特点 | 第25-27页 |
| ·金属伪影 | 第27-33页 |
| ·单金属条件下的放射状金属伪影 | 第27-29页 |
| ·多金属条件下的放射状金属伪影 | 第29-31页 |
| ·多金属条件下的黑色带状金属伪影 | 第31-33页 |
| ·本章小节 | 第33-36页 |
| 第三章 锥束CT散射伪影校正 | 第36-44页 |
| ·散射与累计衰减系数的关系 | 第36-37页 |
| ·散射校正装置设计 | 第37-38页 |
| ·结合衰减网格与散射采样的散射校正方法 | 第38-41页 |
| ·散射强度的分解 | 第38-39页 |
| ·校正方法的改进 | 第39-40页 |
| ·校正方法的流程 | 第40-41页 |
| ·实验及结果 | 第41-42页 |
| ·实验条件 | 第41页 |
| ·实验结果 | 第41-42页 |
| ·散射校正方法分析 | 第42-43页 |
| ·衰减网格工艺 | 第42-43页 |
| ·散透比参数曲面的插值 | 第43页 |
| ·与硬化校正的结合 | 第43页 |
| ·本章小节 | 第43-44页 |
| 第四章 锥束CT金属伪影校正 | 第44-62页 |
| ·硬化与散射对金属伪影的贡献 | 第44-50页 |
| ·基于蒙特卡罗方法的多能谱射线模拟 | 第44-46页 |
| ·射束硬化的影响 | 第46-48页 |
| ·射束硬化与散射的综合影响 | 第48-50页 |
| ·扁平状物体金属伪影特点分析 | 第50-55页 |
| ·不透明现象 | 第50-53页 |
| ·噪声干扰 | 第53-55页 |
| ·照射角度补偿系数 | 第55页 |
| ·基于角度补偿的扁平状物体金属伪影校正方法 | 第55-58页 |
| ·校正表的计算 | 第55-58页 |
| ·投影数据的校正 | 第58页 |
| ·图像重建 | 第58页 |
| ·实验结果 | 第58-59页 |
| ·校正算法比较 | 第59-61页 |
| ·本章小节 | 第61-62页 |
| 结束语 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 附录A 射线衰减 | 第68-69页 |
| 附录C 平板探测器串扰问题研究 | 第69-72页 |
| 作者简历 攻读硕士学位期间完成的主要工作 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
