首页--数理科学和化学论文--物理学论文--固体物理学论文--薄膜物理学论文--薄膜测量与分析论文

光学膜厚宽带监控关键技术研究

摘要第1-7页
ABSTRACT第7-11页
第一章 绪论第11-15页
   ·研究背景和意义第11-12页
   ·研究现状及前人研究成果第12-13页
     ·国外研究现状及前人研究成果第12页
     ·国内研究现状及前人研究成果第12-13页
   ·研究工作的主要内容及创新点第13-15页
第二章 光学薄膜技术简述第15-37页
   ·光学薄膜设计技术简述第15-18页
   ·光学薄膜制备技术简述第18-22页
     ·化学气相沉积第18页
     ·物理气相沉积法第18-21页
     ·离子辅助镀膜技术第21-22页
   ·光学膜厚监控技术简述第22-36页
     ·主要监控方法简述第23-30页
     ·任意厚度膜系监控方法简述第30-33页
     ·膜厚宽带监控技术第33-36页
   ·本章小结第36-37页
第三章 系统光谱分辨率分析与谱线校准技术第37-60页
   ·引言第37-38页
   ·基于阵列探测器的光栅光谱仪简述第38-41页
     ·阵列探测器像元尺寸对采样信号的影响第38-40页
     ·基于CCD的多通道光谱仪的基本结构第40-41页
   ·入射狭缝最佳尺度确定第41-46页
     ·基于CCD的光栅光谱仪理论分辨率计算第41-44页
     ·狭缝最佳宽度的实验确定第44-46页
   ·CCD像元与光谱波长对应关系标定第46-59页
     ·波长与像元序数的非线性关系第46-47页
     ·CCD光谱测量中的波长定标第47-52页
     ·测试实验第52-59页
   ·本章小结第59-60页
第四章 背景噪声抑制与实现技术第60-76页
   ·引言第60页
   ·背景光强的抑制方法简述第60-63页
     ·背景光强抑制方法简述第60-62页
     ·背景光强抑制的同步累计法第62页
     ·宽带膜厚监控信号的提取方法第62-63页
   ·膜厚宽带监控系统构成简述第63-67页
   ·抑制背景光强影响的实现技术第67-70页
     ·步进电机的控制原理及处理流程第68-69页
     ·采集部分数据的提取与分类第69-70页
     ·采集控制软件流程第70页
   ·实验结果与分析第70-74页
     ·光源的稳定性测试第70-72页
     ·背景噪声剔除效果测试第72-73页
     ·器件动态范围测试第73-74页
   ·本章小结第74-76页
第五章 噪声的数字信号处理技术第76-97页
   ·引言第76-77页
   ·随机信号的各种去噪方法简述第77-85页
     ·Savitzky-Golay法去噪第77-78页
     ·Boxcar法去噪第78页
     ·FFT法去噪第78-81页
     ·小波阈值法去噪第81-85页
   ·各去噪方法的实际效果比较第85-90页
     ·Savitzky-Golay法去噪效果第86页
     ·boxcar法去噪效果第86-87页
     ·FFT法去噪效果第87-89页
     ·小波滤波法去噪效果第89-90页
   ·小波阈值去噪优化算法第90-96页
     ·自适应阈值算法优化的原理第91-92页
     ·阈值确定第92-93页
     ·线阵CCD薄膜宽带监控系统实测结果第93-96页
     ·实验结果分析第96页
   ·本章小结第96-97页
第六章 基于设计制造一体化的评价函数的修正技术第97-119页
   ·引言第97页
   ·膜料吸收引起偏差的理论计算第97-101页
     ·吸收偏差第98-99页
     ·吸收介质膜层光学特性计算第99-101页
   ·吸收偏差的逐层补偿方法第101-107页
     ·逐层补偿方法第101-103页
     ·逐层补偿的实现第103-107页
   ·薄膜参数的光谱拟合法第107-108页
   ·三种拟合方法的对比实验第108-116页
     ·最小二乘拟合结果第111页
     ·单纯形法拟合第111-112页
     ·模拟退火法拟合第112-114页
     ·三种拟合方法比较结果第114-116页
   ·薄膜制备实验及结果分析第116-118页
   ·本章小结第118-119页
第七章 结论第119-121页
致谢第121-122页
参考文献第122-127页
攻读博士期间科研与发表论文情况第127-128页

论文共128页,点击 下载论文
上一篇:随机粗糙面与目标复合电磁散射的快速算法研究
下一篇:红外成像光谱数据获取及其在场景仿真中的应用