| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第11-23页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 硅橡胶复合绝缘子 | 第12-16页 |
| 1.2.1 硅橡胶复合绝缘子的结构 | 第12-13页 |
| 1.2.2 高温硫化硅橡胶的主要配方组分 | 第13-16页 |
| 1.3 复合绝缘子的老化研究 | 第16-20页 |
| 1.3.1 老化因素 | 第16-17页 |
| 1.3.2 老化表征 | 第17-18页 |
| 1.3.3 憎水性检测方法 | 第18-19页 |
| 1.3.4 憎水恢复性 | 第19-20页 |
| 1.4 复合绝缘子研究现状 | 第20-22页 |
| 1.4.1 复合绝缘子伞裙配方研究 | 第20-21页 |
| 1.4.2 复合绝缘子憎水恢复性研究 | 第21-22页 |
| 1.5 本文研究内容与目的 | 第22-23页 |
| 第二章 气相色谱—质谱联用测定复合绝缘子中硅氧烷小分子 | 第23-36页 |
| 2.1 技术原理 | 第23-25页 |
| 2.2 预处理实验及实验参数 | 第25-26页 |
| 2.2.1 抽提实验 | 第25-26页 |
| 2.2.2 抽提实验条件参数 | 第26页 |
| 2.3 GC-MS实验参数与分析方法 | 第26-29页 |
| 2.4 硅橡胶材料憎水恢复性评价方法 | 第29-31页 |
| 2.5 国内不同厂商的硅橡胶复合绝缘子硅氧烷小分子及憎水恢复性 | 第31-35页 |
| 2.6 本章小结 | 第35-36页 |
| 第三章 不同配方成分对硅橡胶材料小分子及憎水恢复性影响 | 第36-52页 |
| 3.1 样品制备及实验方法 | 第37-39页 |
| 3.1.1 制作流程 | 第37-38页 |
| 3.1.2 配方设计 | 第38页 |
| 3.1.3 实验方法 | 第38-39页 |
| 3.2 不同硫化剂含量对绝缘子性能与结构的影响 | 第39-42页 |
| 3.2.1 不同硫化剂含量对硅氧烷小分子的影响 | 第39-40页 |
| 3.2.2 不同硫化剂含量对憎水恢复性的影响 | 第40-42页 |
| 3.2.3 不同硫化剂含量对绝缘子表面结构的影响 | 第42页 |
| 3.3 不同二氧化硅含量对绝缘子性能与结构的影响 | 第42-46页 |
| 3.3.1 不同二氧化硅含量对硅氧烷小分子的影响 | 第42-44页 |
| 3.3.2 不同二氧化硅含量对憎水恢复性的影响 | 第44-45页 |
| 3.3.3 不同二氧化硅含量对绝缘子表面结构的影响 | 第45-46页 |
| 3.4 不同氢氧化铝含量对绝缘子性能与结构的影响 | 第46-50页 |
| 3.4.1 不同氢氧化铝含量对硅氧烷小分子的影响 | 第46-48页 |
| 3.4.2 不同氢氧化铝含量对憎水恢复性的影响 | 第48-49页 |
| 3.4.3 不同氢氧化铝含量对绝缘子表面结构的影响 | 第49-50页 |
| 3.5 本章小结 | 第50-52页 |
| 第四章 现场运行复合绝缘子硅氧烷小分子及憎水恢复性 | 第52-60页 |
| 4.1 试验部分 | 第52-53页 |
| 4.1.1 试验样品及预处理 | 第52-53页 |
| 4.1.2 其它试验及表征方法 | 第53页 |
| 4.2 结果与讨论 | 第53-59页 |
| 4.2.1 表面憎水性与微观结构 | 第53-56页 |
| 4.2.2 憎水恢复性与硅氧烷小分子 | 第56-58页 |
| 4.2.3 吸水试验 | 第58-59页 |
| 4.3 本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 全文总结 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
