相位测量轮廓术在3D锡膏检测仪中的应用研究
| 中文摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 研究现状及发展趋势 | 第11-16页 |
| 1.2.1 锡膏测量仪研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.2 相位测量轮廓术研究现状 | 第13-16页 |
| 1.3 本文的主要工作及创新点 | 第16-18页 |
| 1.3.1 本文的主要工作及章节安排 | 第16-17页 |
| 1.3.2 本文创新点 | 第17-18页 |
| 第二章 锡膏检测仪的系统框架 | 第18-25页 |
| 2.1 锡膏三维测量的原理 | 第18-22页 |
| 2.1.1 激光三角法 | 第18-20页 |
| 2.1.2 相位测量轮廓术 | 第20-22页 |
| 2.2 锡膏检测仪的系统框架及检测流程 | 第22-24页 |
| 2.2.1 系统结构框架 | 第22-23页 |
| 2.2.2 检测流程 | 第23-24页 |
| 2.3 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 相位测量轮廓术 | 第25-38页 |
| 3.1 正弦光栅投影 | 第25-27页 |
| 3.1.1 光栅图像预处理 | 第25-26页 |
| 3.1.2 光栅图像获取 | 第26-27页 |
| 3.2 相移算法研究 | 第27-28页 |
| 3.2.1 定步长相移算法 | 第27页 |
| 3.2.2 等步长相移算法 | 第27-28页 |
| 3.3 相位展开的数学描述 | 第28-32页 |
| 3.3.1 Itoh条件 | 第29-30页 |
| 3.3.2 二维包裹相位的相位展开 | 第30-32页 |
| 3.4 相位-高度标定 | 第32-37页 |
| 3.4.1 四种常见系统模型 | 第32-35页 |
| 3.4.2 多项式拟合系统标定 | 第35-37页 |
| 3.5 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 相位展开算法研究 | 第38-56页 |
| 4.1 几种常见的相位展开算法 | 第38-47页 |
| 4.1.1 枝切法 | 第38-41页 |
| 4.1.2 质量图导向法 | 第41-44页 |
| 4.1.3 最小二乘法 | 第44-47页 |
| 4.2 相位展开算法性能比较 | 第47-49页 |
| 4.2.1 抗噪声能力 | 第47页 |
| 4.2.2 相位展开误差 | 第47-48页 |
| 4.2.3 算法耗时 | 第48-49页 |
| 4.3 基于原始相位展开法的改进相位差计算算法 | 第49-55页 |
| 4.3.1 锡膏检测量程 | 第49-50页 |
| 4.3.2 相位展开算法选取 | 第50-51页 |
| 4.3.3 改进的相位差求取算法 | 第51-55页 |
| 4.4 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 系统组成及实验结果分析 | 第56-69页 |
| 5.1 系统组成 | 第56-57页 |
| 5.2 镜头分配实验 | 第57-58页 |
| 5.3 显卡加速实验 | 第58-62页 |
| 5.3.1 显卡加速原理 | 第58-60页 |
| 5.3.2 实验数据分析 | 第60-62页 |
| 5.4 测量精度验证实验 | 第62-64页 |
| 5.5 三维重建分析 | 第64-68页 |
| 5.5.1 双投影仪阴影补偿 | 第64-65页 |
| 5.5.2 三维重建过程 | 第65-67页 |
| 5.5.3 三维重建实例展示 | 第67-68页 |
| 5.6 本章小结 | 第68-69页 |
| 总结与展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-76页 |
| 附录 | 第76-85页 |
| 攻读学位期间本人出版或公开发表的论著、论文 | 第85-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
