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温度稳定型钼基低烧微波介质陶瓷研究

摘要第3-5页
ABSTRACT第5-6页
1 绪论第9-21页
    1.1 引言第9页
    1.2 白钨矿结构介绍第9-11页
    1.3 微波介质陶瓷的介电参数分析第11-15页
        1.3.1 极化机制和极化率第11-12页
        1.3.2 介质介电常数第12-14页
        1.3.3 介质品质因数第14-15页
        1.3.4 介质谐振频率温度系数第15页
    1.4 微波介质陶瓷的发展历史及研究意义第15-18页
    1.5 本论文的研究内容及其意义第18-21页
2 实验内容第21-31页
    2.1 实验原料与主要仪器第21-22页
        2.1.1 实验原料第21页
        2.1.2 实验设备第21-22页
    2.2 实验工艺过程第22-24页
    2.3 介质陶瓷表征方法与性能测试第24-31页
        2.3.1 X射线衍射分析第25-26页
        2.3.2 扫描电子显微镜分析第26-27页
        2.3.3 介质陶瓷致密度测试第27页
        2.3.4 微波介电性能测试第27-31页
3 PbO-MoO3二元微波介质陶瓷体系第31-39页
    3.1 引言第31-32页
    3.2 样品制备第32页
    3.3 结构与讨论第32-38页
        3.3.1XRD物相分析第32-33页
        3.3.2 形貌分析第33-35页
        3.3.3 微波介电性能第35-38页
    3.4 小结第38-39页
4 白钨矿结构Li(Sm, Nd, Ca)MoO4三元体系微波介质陶瓷第39-51页
    4.1 引言第39页
    4.2 样品制备第39-40页
    4.3 结果与讨论第40-49页
        4.3.1 物相、晶胞参数及精修结果分析第40-43页
        4.3.2 拉曼光谱分析第43-44页
        4.3.3 微波介电性能分析第44-45页
        4.3.4 背散射及能谱分析第45-46页
        4.3.5 红外反射分析第46-49页
    4.4 小结第49-51页
5 Na(La, Nd, Ce, Bi)MoO4四元体系低温烧结微波介质陶瓷第51-63页
    5.1 引言第51页
    5.2 样品制备第51-52页
    5.3 结果与讨论第52-60页
        5.3.1XRD物相分析第52-54页
        5.3.2 形貌分析第54-56页
        5.3.3 微波介电性能第56-60页
    5.4 小结第60-63页
6 全文总结与未来工作展望第63-65页
    6.1 全文结论第63-64页
    6.2 未来展望第64-65页
参考文献第65-71页
致谢第71-73页
攻读硕士学位期间取得的研究成果第73-74页

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