摘要 | 第3-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
1 绪论 | 第9-21页 |
1.1 引言 | 第9页 |
1.2 白钨矿结构介绍 | 第9-11页 |
1.3 微波介质陶瓷的介电参数分析 | 第11-15页 |
1.3.1 极化机制和极化率 | 第11-12页 |
1.3.2 介质介电常数 | 第12-14页 |
1.3.3 介质品质因数 | 第14-15页 |
1.3.4 介质谐振频率温度系数 | 第15页 |
1.4 微波介质陶瓷的发展历史及研究意义 | 第15-18页 |
1.5 本论文的研究内容及其意义 | 第18-21页 |
2 实验内容 | 第21-31页 |
2.1 实验原料与主要仪器 | 第21-22页 |
2.1.1 实验原料 | 第21页 |
2.1.2 实验设备 | 第21-22页 |
2.2 实验工艺过程 | 第22-24页 |
2.3 介质陶瓷表征方法与性能测试 | 第24-31页 |
2.3.1 X射线衍射分析 | 第25-26页 |
2.3.2 扫描电子显微镜分析 | 第26-27页 |
2.3.3 介质陶瓷致密度测试 | 第27页 |
2.3.4 微波介电性能测试 | 第27-31页 |
3 PbO-MoO3二元微波介质陶瓷体系 | 第31-39页 |
3.1 引言 | 第31-32页 |
3.2 样品制备 | 第32页 |
3.3 结构与讨论 | 第32-38页 |
3.3.1XRD物相分析 | 第32-33页 |
3.3.2 形貌分析 | 第33-35页 |
3.3.3 微波介电性能 | 第35-38页 |
3.4 小结 | 第38-39页 |
4 白钨矿结构Li(Sm, Nd, Ca)MoO4三元体系微波介质陶瓷 | 第39-51页 |
4.1 引言 | 第39页 |
4.2 样品制备 | 第39-40页 |
4.3 结果与讨论 | 第40-49页 |
4.3.1 物相、晶胞参数及精修结果分析 | 第40-43页 |
4.3.2 拉曼光谱分析 | 第43-44页 |
4.3.3 微波介电性能分析 | 第44-45页 |
4.3.4 背散射及能谱分析 | 第45-46页 |
4.3.5 红外反射分析 | 第46-49页 |
4.4 小结 | 第49-51页 |
5 Na(La, Nd, Ce, Bi)MoO4四元体系低温烧结微波介质陶瓷 | 第51-63页 |
5.1 引言 | 第51页 |
5.2 样品制备 | 第51-52页 |
5.3 结果与讨论 | 第52-60页 |
5.3.1XRD物相分析 | 第52-54页 |
5.3.2 形貌分析 | 第54-56页 |
5.3.3 微波介电性能 | 第56-60页 |
5.4 小结 | 第60-63页 |
6 全文总结与未来工作展望 | 第63-65页 |
6.1 全文结论 | 第63-64页 |
6.2 未来展望 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-71页 |
致谢 | 第71-73页 |
攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第73-74页 |