甚低频有限振幅声压校准若干理论及技术问题的研究
| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 1 绪论 | 第14-34页 |
| 1.1 声学测量与传声器校准 | 第14-18页 |
| 1.1.1 声波与声压测量 | 第14页 |
| 1.1.2 传声器的原理及其分类 | 第14-15页 |
| 1.1.3 声压量值的复现和传递 | 第15-17页 |
| 1.1.4 传声器校准的内容和意义 | 第17-18页 |
| 1.2 传声器的原级校准方法及研究发展 | 第18-27页 |
| 1.2.1 耦合腔互易法 | 第19-21页 |
| 1.2.2 静电激励器法 | 第21-23页 |
| 1.2.3 活塞发声器法 | 第23-26页 |
| 1.2.4 高声压校准器法 | 第26-27页 |
| 1.3 甚低频有限振幅声压校准的研究与进展 | 第27-30页 |
| 1.3.1 甚低频有限振幅声压校准的意义 | 第27页 |
| 1.3.2 甚低频有限振幅声压校准的研究现状 | 第27-29页 |
| 1.3.3 甚低频有限振幅声压校准的研究现状评述 | 第29-30页 |
| 1.4 论文的主要研究内容 | 第30-34页 |
| 2 薄膜密封耦合腔内的线性声压理论 | 第34-50页 |
| 2.1 引言 | 第34页 |
| 2.2 耦合腔内的线性声压理论 | 第34-35页 |
| 2.3 密闭绝热耦合腔内声压的波动修正理论 | 第35-41页 |
| 2.3.1 耦合腔内线性声波动的理论分析 | 第36-40页 |
| 2.3.2 薄膜密封耦合腔的波动修正表达式 | 第40-41页 |
| 2.4 绝热耦合腔内声压的泄漏修正理论 | 第41-45页 |
| 2.4.1 薄膜密封耦合腔的绝热时间常数表达式 | 第41-43页 |
| 2.4.2 薄膜密封耦合腔的泄漏修正表达式 | 第43-44页 |
| 2.4.3 绝热时间常数的获取方法 | 第44-45页 |
| 2.5 泄漏非绝热耦合腔内声压的耦合修正理论 | 第45-49页 |
| 2.5.1 泄漏和热传导耦合修正表达式 | 第46-47页 |
| 2.5.2 声压的低频特性研究 | 第47-49页 |
| 2.6 本章小结 | 第49-50页 |
| 3 薄膜密封耦合腔内有限振幅声压的非线性特性 | 第50-64页 |
| 3.1 引言 | 第50页 |
| 3.2 基于微扰法的线性化波动方程 | 第50-55页 |
| 3.2.1 物态方程 | 第51-52页 |
| 3.2.2 运动方程 | 第52-53页 |
| 3.2.3 连续性方程 | 第53页 |
| 3.2.4 线性化波动方程 | 第53-55页 |
| 3.3 线性化波动方程的解 | 第55-58页 |
| 3.3.1 一阶线性化波动方程的解 | 第55-56页 |
| 3.3.2 二阶线性化波动方程的解 | 第56-57页 |
| 3.3.3 声压波形的谐波失真分析 | 第57-58页 |
| 3.4 有限振幅声波的互调作用 | 第58-61页 |
| 3.4.1 一阶线性化波动方程的互调解 | 第59页 |
| 3.4.2 二阶线性化波动方程的互调解 | 第59-61页 |
| 3.4.3 声压波形的互调失真特性 | 第61页 |
| 3.5 本章小结 | 第61-64页 |
| 4 甚低频有限振幅声压校准装置的相关设计技术 | 第64-82页 |
| 4.1 引言 | 第64页 |
| 4.2 薄膜密封结构的设计与分析 | 第64-70页 |
| 4.2.1 薄膜密封技术的结构方案 | 第64-65页 |
| 4.2.2 密封薄膜材料的本构模型 | 第65-66页 |
| 4.2.3 密封薄膜的静压载荷变形特征 | 第66-68页 |
| 4.2.4 密封薄膜的动态特征 | 第68-70页 |
| 4.3 校准装置的位移和声压输出特性 | 第70-75页 |
| 4.3.1 电磁振动台的位移输出特性 | 第70-71页 |
| 4.3.2 无反馈控制的振动台与耦合腔输出特性 | 第71-72页 |
| 4.3.3 有反馈控制的振动台与耦合腔输出特性 | 第72-75页 |
| 4.4 耦合腔的结构参数设计 | 第75-80页 |
| 4.4.1 泄漏和热传导对声压的影响 | 第75-77页 |
| 4.4.2 非刚性壁和传声器对声压的影响 | 第77-79页 |
| 4.4.3 耦合腔的结构参数设计 | 第79-80页 |
| 4.5 本章小结 | 第80-82页 |
| 5 甚低频有限振幅声压校准装置的实验研究 | 第82-94页 |
| 5.1 引言 | 第82页 |
| 5.2 测控系统与仪器设备 | 第82-85页 |
| 5.2.1 位移激励系统 | 第83页 |
| 5.2.2 耦合腔结构 | 第83-84页 |
| 5.2.3 数据处理和采集系统 | 第84页 |
| 5.2.4 被校传声器 | 第84-85页 |
| 5.3 实测时间常数与绝热时间常数 | 第85-88页 |
| 5.3.1 实测时间常数测试 | 第85-86页 |
| 5.3.2 绝热时间常数修正 | 第86-87页 |
| 5.3.3 泄漏修正及修正偏差 | 第87-88页 |
| 5.4 输出能力和失真特性分析 | 第88-92页 |
| 5.4.1 位移与声压输出能力 | 第88页 |
| 5.4.2 位移和声压失真测试 | 第88-92页 |
| 5.5 振动对传声器输出的影响 | 第92-93页 |
| 5.6 本章小结 | 第93-94页 |
| 6 传声器的原级校准与不确定度评定 | 第94-116页 |
| 6.1 前言 | 第94页 |
| 6.2 声压灵敏度级的原级校准 | 第94-96页 |
| 6.3 不同密封模式下的传声器原级校准 | 第96-99页 |
| 6.3.1 间隙密封模式 | 第96-97页 |
| 6.3.2 薄膜密封模式 | 第97-99页 |
| 6.4 传声器的内外均压原级校准 | 第99-102页 |
| 6.4.1 外均压校准 | 第100-101页 |
| 6.4.2 内均压校准 | 第101-102页 |
| 6.5 压力传感器甚低频声压校准实验 | 第102-105页 |
| 6.5.1 间隙密封耦合腔 | 第102-103页 |
| 6.5.2 薄膜密封大尺寸耦合腔 | 第103-104页 |
| 6.5.3 薄膜密封小尺寸耦合腔 | 第104-105页 |
| 6.6 不确定度评定 | 第105-114页 |
| 6.6.1 不确定度作用分量评定 | 第105-113页 |
| 6.6.2 校准重复性评定 | 第113页 |
| 6.6.3 扩展不确定度 | 第113-114页 |
| 6.7 本章小结 | 第114-116页 |
| 7 结论与展望 | 第116-120页 |
| 7.1 结论 | 第116-118页 |
| 7.2 展望 | 第118-120页 |
| 参考文献 | 第120-130页 |
| 附录 | 第130-131页 |
| 作者简历 | 第131页 |
