| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-18页 |
| 1.1 干涉成像光谱仪的发展 | 第9-11页 |
| 1.2 干涉成像光谱技术研究意义与研究现状 | 第11-16页 |
| 1.3 论文的主要内容 | 第16-18页 |
| 第2章 双路四通道同时干涉成像光谱仪基本理论 | 第18-32页 |
| 2.1 光学结构 | 第18-19页 |
| 2.2 偏振成像原理 | 第19-21页 |
| 2.3 DCSIIS系统的核心部件—Savart板的研究与分析 | 第21-27页 |
| 2.3.1 Savart板的结构 | 第21-22页 |
| 2.3.2 光在Savart板中的波法线追迹 | 第22-24页 |
| 2.3.3 Savart的材料选择 | 第24-26页 |
| 2.3.4 Savart板光程差与波长λ、晶体厚度t、入射角i和入射面与主截面夹角ω的变化关系 | 第26-27页 |
| 2.4 系统参数设计 | 第27-32页 |
| 2.4.1 横向剪切量的设计 | 第28-30页 |
| 2.4.2 晶体厚度的设计 | 第30-32页 |
| 第3章 基于平行分束棱镜的干涉成像光谱仪的研究 | 第32-42页 |
| 3.1 光学结构和偏振成像原理 | 第32-33页 |
| 3.2 平行分束棱镜的结构原理 | 第33-38页 |
| 3.2.1 厚度对干涉强度分布的影响 | 第34-37页 |
| 3.2.2 干涉强度与空间位置和波长的关系 | 第37-38页 |
| 3.3 IISPBSP与IISSP的对比 | 第38-42页 |
| 3.3.1 横向剪切量和实际光程差的对比 | 第38-39页 |
| 3.3.2 干涉强度和干涉条纹间距的对比 | 第39-40页 |
| 3.3.3 光谱分辨率的对比 | 第40-42页 |
| 第4章 仿真模拟与实验 | 第42-51页 |
| 4.1 仿真模拟 | 第42-44页 |
| 4.2 实验验证 | 第44-51页 |
| 4.2.1 单色光实验 | 第44-47页 |
| 4.2.2 复色光实验 | 第47-51页 |
| 第5章 总结与展望 | 第51-53页 |
| 5.1 总结 | 第51-52页 |
| 5.2 展望 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-58页 |
| 在读期间发表的学术论文及研究成果 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |