CCD型X射线探测器温度特性
| 内容提要 | 第1-11页 |
| 第1章 X射线探测器简介 | 第11-19页 |
| ·气体探测器 | 第11-13页 |
| ·闪烁体探测器 | 第13-15页 |
| ·半导体探测器 | 第15-19页 |
| 第2章 CCD型X射线探测器 | 第19-43页 |
| ·电荷的产生 | 第19-22页 |
| ·电荷的存储 | 第22-23页 |
| ·电荷的转移 | 第23-31页 |
| ·三相CCD 的电荷转移 | 第23-25页 |
| ·二相CCD 的电荷转移 | 第25-26页 |
| ·电荷转移机制 | 第26-28页 |
| ·缺陷对电荷转移的影响 | 第28-31页 |
| ·电荷的收集 | 第31页 |
| ·第二代SCD：CCD236 介绍 | 第31-34页 |
| ·CCD 探测器的噪声 | 第34-37页 |
| ·散粒噪声 | 第34-35页 |
| ·暗电流噪声 | 第35-36页 |
| ·电荷转移噪声 | 第36页 |
| ·噪声对能量分辨的影响 | 第36-37页 |
| ·CCD 探测器的性能评价方法 | 第37-43页 |
| ·能量线性 | 第37-39页 |
| ·能量分辨 | 第39-41页 |
| ·读出噪声 | 第41页 |
| ·计数率 | 第41-43页 |
| 第3章 低能X射线望远镜 | 第43-49页 |
| ·硬X 射线调制望远镜 | 第43-45页 |
| ·HXMT 低能X 射线望远镜 | 第45-49页 |
| ·低能X 射线望远镜科学目标 | 第45页 |
| ·低能X 射线望远镜探测器选择 | 第45-46页 |
| ·低能X 射线望远镜结构 | 第46-47页 |
| ·低能X 射线望远镜电子学系统 | 第47-49页 |
| 第4章 CCD236温度特性研究 | 第49-55页 |
| ·CCD236 温度特性研究目的 | 第49页 |
| ·CCD236 温度特性研究实验仪器 | 第49-53页 |
| ·CCD236 温度特性研究实验数据文件格式 | 第53-55页 |
| 第5章 CCD236温度特性实验结果分析 | 第55-67页 |
| ·信号幅度随温度变化 | 第55-57页 |
| ·信号分裂问题 | 第57-63页 |
| ·设计缺陷对信号分裂的影响 | 第58-60页 |
| ·体分布陷阱对信号分裂的影响 | 第60页 |
| ·势垒电势对信号分裂的影响 | 第60-61页 |
| ·驱动电压对信号分裂的影响 | 第61-63页 |
| ·能量分辨随温度变化 | 第63-65页 |
| ·系统读出噪声随温度的变化 | 第65-66页 |
| ·小结 | 第66-67页 |
| 第6章 结论与展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-71页 |
| 缩略语 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 摘要 | 第73-76页 |
| Abstract | 第76-79页 |
