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同轴开放式谐振腔介电性能测试技术研究

摘要第5-6页
abstract第6-7页
第一章 绪论第10-15页
    1.1 研究背景第10页
    1.2 研究动态第10-14页
    1.3 本文研究内容第14-15页
第二章 测试腔体系统设计第15-27页
    2.1 同轴开放式谐振腔测试系统第15-16页
    2.2 测试用同轴开放式谐振腔的设计第16-26页
        2.2.1 同轴传输线中TEM模分布第16-17页
        2.2.2 同轴传输线的传输特性第17-19页
        2.2.3 谐振腔第19-21页
            2.2.3.1 微波谐振腔第19页
            2.2.3.2 谐振腔的谐振波长第19-20页
            2.2.3.3 谐振腔的品质因数第20-21页
        2.2.4 同轴开放式谐振腔腔体设计第21-26页
            2.2.4.1 同轴开放式谐振腔设计准则第21-23页
            2.2.4.2 同轴开放式谐振腔耦合装置第23-25页
            2.2.4.3 腔体总体仿真第25-26页
    2.3 本章小结第26-27页
第三章 测试原理分析第27-49页
    3.1 微扰法测试原理第27-39页
        3.1.1 微扰法基本计算公式第27-30页
            3.1.1.1 小体积介质微扰第29-30页
            3.1.1.2 微小形状微扰第30页
        3.1.2 同轴开放式谐振腔开路端微扰第30-31页
        3.1.3 基于介质微扰的数值分析法第31-39页
            3.1.3.1 参考数据库的建立第31-34页
            3.1.3.2 数值分析第34-39页
    3.2 等效集总电路参数法测试原理第39-48页
        3.2.1 同轴开放式谐振腔的等效集总参数电路第39-42页
        3.2.2 开路端加载分层材料理论分析第42-48页
    3.3 本章小结第48-49页
第四章 实验测试系统的设计与搭建第49-60页
    4.1 用于测试的谐振腔设计第49-51页
        4.1.1 同轴开放式谐振腔设计组装第49-50页
        4.1.2 耦合环设计第50-51页
    4.2 测试夹具设计第51-52页
        4.2.1 高、低损耗基片测试夹具第51页
        4.2.2 液体材料测试夹具第51-52页
    4.3 加压装置设计第52-54页
    4.4 系统校准装置及方法第54-56页
        4.4.1 基于微扰的数值分析法的校准第54-56页
        4.4.2 基于等效集总参数法的校准第56页
    4.5 测试系统组装调试第56-59页
    4.6 本章小结第59-60页
第五章 测试的步骤及数据提取与误差讨论第60-69页
    5.1 压力传感器的使用第60-61页
    5.2 固态微波样品测试第61-65页
        5.2.1 低损耗样品测试第61-63页
        5.2.2 高损耗样品测试第63-65页
    5.3 液态样品测试第65-67页
    5.4 同轴开放式谐振腔测试系统误差分析第67-68页
    5.5 本章小结第68-69页
第六章 结论第69-71页
    6.1 课题研究内容与研究成果第69-70页
    6.2 后续研究延伸展望第70-71页
致谢第71-72页
参考文献第72-76页
硕士期间取得的研究成果第76-77页

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