| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-33页 |
| 1.1 引言 | 第12页 |
| 1.2 有机太阳电池发展历程和研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 有机半导体的基础知识介绍 | 第14-16页 |
| 1.4 太阳辐射光谱 | 第16-17页 |
| 1.5 聚合物太阳电池的工作原理 | 第17-21页 |
| 1.5.1 激子的产生 | 第17-18页 |
| 1.5.2 激子的扩散 | 第18页 |
| 1.5.3 激子的解离 | 第18-19页 |
| 1.5.4 载流子的输运和收集 | 第19-21页 |
| 1.6 聚合物太阳电池的性能表征及其影响因素 | 第21-27页 |
| 1.6.1 开路电压 | 第22-25页 |
| 1.6.2 短路电流 | 第25页 |
| 1.6.3 填充因子 | 第25页 |
| 1.6.4 聚合物太阳电池器件的效率 | 第25-27页 |
| 1.7 聚合物太阳电池的等效电路分析 | 第27-29页 |
| 1.8 聚合物太阳电池中的能量损耗过程分析 | 第29-30页 |
| 1.9 优化聚合物太阳电池性能的常用方法 | 第30-31页 |
| 1.9.1 界面修饰层 | 第30页 |
| 1.9.2 热处理 | 第30-31页 |
| 1.9.3 添加剂 | 第31页 |
| 2.0 本论文研究的主要目的和工作内容 | 第31-33页 |
| 2.0.1 研究论题的提出 | 第31-32页 |
| 2.0.2 本论文的主要工作和创新点 | 第32-33页 |
| 第二章 聚合物太阳电池的制备和性能测试 | 第33-47页 |
| 2.1 聚合物太阳电池的制备 | 第33-37页 |
| 2.1.1 实验依据 | 第33页 |
| 2.1.2 实验所需仪器设备 | 第33-34页 |
| 2.1.3 聚合物太阳电池器件制备的工艺流程 | 第34-37页 |
| 2.2 薄膜的性能测试方法 | 第37-43页 |
| 2.2.1 吸收率和透射率的测量 | 第37页 |
| 2.2.2 功函数测量 | 第37-38页 |
| 2.2.3 HOMO 和 LUMO 能级的测量 | 第38-39页 |
| 2.2.4 迁移率测试 | 第39-42页 |
| 2.2.6 表面形貌分析 | 第42-43页 |
| 2.3 聚合物太阳电池的性能测试 | 第43-46页 |
| 2.3.1 光照条件下聚合物太阳电池 J-V 曲线测试 | 第43页 |
| 2.3.2 黑暗条件下聚合物太阳电池 J-V 曲线测试 | 第43页 |
| 2.3.3 量子效率测试 | 第43-44页 |
| 2.3.4 内建电势的测量 | 第44-46页 |
| 2.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 第三章 基于 IGZO 为界面修饰材料的聚合物太阳电池 | 第47-66页 |
| 3.1 引言 | 第47-49页 |
| 3.2 磁控溅射法 IGZO 薄膜的制备 | 第49-50页 |
| 3.3 IGZO 的物理性能表征 | 第50-53页 |
| 3.3.1 IGZO 的 X 射线光电子能谱 | 第50页 |
| 3.3.2 IGZO 的 X 射线衍射谱 | 第50-51页 |
| 3.3.3 IGZO 的紫外-可见吸收光谱和透射光谱 | 第51-52页 |
| 3.3.4 IGZO 的迁移率测试 | 第52-53页 |
| 3.4 IGZO 薄膜在倒置型聚合物太阳电池中的应用 | 第53-64页 |
| 3.4.1 不同温度热处理的 IGZO 薄膜对器件性能的影响 | 第54-57页 |
| 3.4.2 不同厚度的 IGZO 薄膜对器件性能的影响 | 第57-58页 |
| 3.4.3 不同热处理时间的 IGZO 薄膜对器件性能的影响 | 第58-59页 |
| 3.4.4 溶剂处理 IGZO 薄膜对器件性能的影响 | 第59-60页 |
| 3.4.5 器件的开路电压提升的原因分析 | 第60-62页 |
| 3.4.6 器件的寿命测试 | 第62-64页 |
| 3.5 IGZO 与 PFN 在倒置型聚合物太阳电池中应用的性能比较 | 第64-65页 |
| 3.6 本章小结 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-79页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 附件 | 第81页 |
