| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 绪论 | 第11-14页 |
| 第一章 AMS系统介绍及应用 | 第14-25页 |
| 1.1 普通质谱(MS) | 第14-15页 |
| 1.2 AMS系统简介 | 第15-23页 |
| 1.2.1 离子源 | 第16-18页 |
| 1.2.2 注入系统 | 第18-20页 |
| 1.2.3 串列加速器 | 第20-21页 |
| 1.2.4 高能磁分析器和高能电分析器 | 第21页 |
| 1.2.5 粒子探测 | 第21-23页 |
| 1.2.6 数据获取系统 | 第23页 |
| 1.3 AMS的应用现状 | 第23-24页 |
| 1.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第二章 样品的中子辐照 | 第25-30页 |
| 2.1 中子简介 | 第25-26页 |
| 2.2 辐照条件的确定 | 第26-27页 |
| 2.3 中子通量监督 | 第27-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 ~(79)Se的AMS测量 | 第30-60页 |
| 3.1 样品制配 | 第31-36页 |
| 3.1.1 ~(79)Se标准样品溶液的制配 | 第31-33页 |
| 3.1.2 AMS样品的制备 | 第33-36页 |
| 3.2 实验设备及参数 | 第36-44页 |
| 3.2.1 离子源 | 第36-38页 |
| 3.2.2 注入磁铁 | 第38-39页 |
| 3.2.3 加速器 | 第39-40页 |
| 3.2.4 高能分析磁铁 | 第40-41页 |
| 3.2.5 开关磁铁 | 第41-42页 |
| 3.2.6 静电偏转板 | 第42-43页 |
| 3.2.7 探测器 | 第43-44页 |
| 3.3 样品的AMS测量 | 第44-53页 |
| 3.3.1 通光路及模拟传输 | 第46-47页 |
| 3.3.2 ~(79)Se最佳传输条件的确定 | 第47-50页 |
| 3.3.3 测量~(79)Se样品 | 第50-53页 |
| 3.4 数据处理及实验结果分析 | 第53-55页 |
| 3.4.1 传输效率 | 第53-54页 |
| 3.4.2 辐照样品中~(79)Se/~(78)Se比值 | 第54-55页 |
| 3.4.3 截面值测定结果 | 第55页 |
| 3.5 误差分析 | 第55-57页 |
| 3.5.1 标准偏差 | 第55-56页 |
| 3.5.2 实验总误差 | 第56-57页 |
| 3.6 实验结果分析 | 第57-58页 |
| 3.7 本章小结 | 第58-60页 |
| 第四章 总结与展望 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 攻读学位期间发表论文情况 | 第67页 |