| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 引言 | 第11-25页 |
| 1.1 中子源 | 第11-15页 |
| 1.1.1 中子源的分类 | 第11-13页 |
| 1.1.2 中国散裂中子源与Back-n反角白光束线 | 第13-15页 |
| 1.2 带电粒子发射 | 第15-18页 |
| 1.2.1 中子核反应的分类 | 第15-16页 |
| 1.2.2 (n,lcp)反应的简介 | 第16-17页 |
| 1.2.3 (n,lcp)反应的探测方法 | 第17-18页 |
| 1.3 LPDA谱仪 | 第18-20页 |
| 1.4 本文的研究意义、内容和结构安排 | 第20-21页 |
| 1.5 本章小结 | 第21页 |
| 参考文献 | 第21-25页 |
| 第2章 中子谱仪中的读出电子学系统 | 第25-39页 |
| 2.1 国外相关谱仪的读出电子学系统 | 第25-30页 |
| 2.1.1 瑞典MEDLEY谱仪 | 第25-27页 |
| 2.1.2 美国NZ与LENZ谱仪 | 第27-30页 |
| 2.2 国内相关谱仪的读出电子学系统 | 第30-33页 |
| 2.2.1 北京大学静电加速器的双屏栅电离室探测器 | 第30-32页 |
| 2.2.2 Back-n面向首批物理实验的LPDA谱仪 | 第32-33页 |
| 2.3 各读出电子学系统的比较 | 第33-35页 |
| 2.4 本章小结 | 第35页 |
| 参考文献 | 第35-39页 |
| 第3章 适用于LPDA谱仪的读出电子学系统 | 第39-47页 |
| 3.1 LPDA谱仪的输出特征与测量需求 | 第39-42页 |
| 3.1.1 输出特征 | 第39-42页 |
| 3.1.2 测量需求 | 第42页 |
| 3.2 基于PXIe的波形数字化平台 | 第42-44页 |
| 3.3 适用于LPDA谱仪的读出电子学系统 | 第44-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45页 |
| 参考文献 | 第45-47页 |
| 第4章 波形数字化模块的原型设计 | 第47-69页 |
| 4.1 架构设计 | 第47-48页 |
| 4.2 读出母板的硬件设计 | 第48-58页 |
| 4.2.1 ADC芯片的选型与设计 | 第49-51页 |
| 4.2.2 FPGA芯片的选型与设计 | 第51-52页 |
| 4.2.3 时钟模块的设计 | 第52-54页 |
| 4.2.4 存储模块的设计 | 第54-55页 |
| 4.2.5 电源模块的设计 | 第55-58页 |
| 4.3 读出母板的FPGA固件设计 | 第58-64页 |
| 4.3.1 ADC数据获取 | 第59-60页 |
| 4.3.2 实时数字处理 | 第60-61页 |
| 4.3.3 数据缓存与上传 | 第61-63页 |
| 4.3.4 基于AXI4-Lite的片上子系统 | 第63-64页 |
| 4.4 输入子板的硬件设计 | 第64-66页 |
| 4.4.1 无源版本 | 第64-65页 |
| 4.4.2 有源版本 | 第65-66页 |
| 4.5 本章小结 | 第66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 第5章 波形数字化模块的测试与验证 | 第69-81页 |
| 5.1 时钟模块测试 | 第69-71页 |
| 5.2 ADC性能测试 | 第71-78页 |
| 5.2.1 静态性能测试 | 第71-74页 |
| 5.2.2 动态性能测试 | 第74-78页 |
| 5.3 信号采集测试 | 第78-79页 |
| 5.4 本章小结 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-81页 |
| 第6章 总结与展望 | 第81-83页 |
| 6.1 总结 | 第81-82页 |
| 6.2 展望 | 第82-83页 |
| 附录 | 第83-85页 |
| 致谢 | 第85-87页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第87页 |
