| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第14-21页 |
| 1.1 引言 | 第14-18页 |
| 1.1.1 压电陶瓷片 | 第14-15页 |
| 1.1.2 基于 Lamb 波的结构健康监测技术 | 第15-17页 |
| 1.1.3 Lamb 波检测技术与其它检测技术的比较 | 第17-18页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3 选题的研究意义 | 第19页 |
| 1.4 本文的主要研究内容及结构安排 | 第19-21页 |
| 第二章 Lamb 波的传播特性及损伤识别原理 | 第21-37页 |
| 2.1 Lamb 波相速度的求解 | 第22-25页 |
| 2.1.1 数值计算过程 | 第23页 |
| 2.1.2 仿真结果及讨论 | 第23-25页 |
| 2.2 Lamb 波的振动幅度 | 第25-29页 |
| 2.2.1 薄板上表面的应力模型 | 第25-26页 |
| 2.2.2 振动幅度的推导 | 第26-28页 |
| 2.2.3 仿真结果 | 第28-29页 |
| 2.3 激励波形的选择 | 第29-33页 |
| 2.3.1 窗函数的选择 | 第30-32页 |
| 2.3.2 激励波形的确定 | 第32-33页 |
| 2.4 损伤识别原理 | 第33-36页 |
| 2.4.1 裂缝的识别原理 | 第33-34页 |
| 2.4.2 金属疲劳的识别原理 | 第34-35页 |
| 2.4.3 两种损伤的区别与特点 | 第35-36页 |
| 2.5 本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 结构健康监测系统的设计 | 第37-51页 |
| 3.1 系统的整体设计 | 第37-38页 |
| 3.2 波形产生子系统和数据采集子系统的实现 | 第38-50页 |
| 3.2.1 USB 总线接口芯片 CH376 | 第39-40页 |
| 3.2.2 FPGA 芯片与 Verilog HDL 语言 | 第40-41页 |
| 3.2.3 波形产生子系统 | 第41-45页 |
| 3.2.3.1 功能描述与整体设计 | 第41-42页 |
| 3.2.3.2 FPGA 部分的设计 | 第42-43页 |
| 3.2.3.3 NiosⅡ嵌入式处理器上的软件设计 | 第43-44页 |
| 3.2.3.4 主机上的软件设计 | 第44-45页 |
| 3.2.3.5 功能验证 | 第45页 |
| 3.2.4 数据采集子系统 | 第45-50页 |
| 3.2.4.1 功能描述与整体设计 | 第45-46页 |
| 3.2.4.2 FPGA 部分的设计 | 第46-47页 |
| 3.2.4.3 软件部分的设计 | 第47-49页 |
| 3.2.4.4 功能验证 | 第49-50页 |
| 3.3 本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 7050 铝合金板的裂缝和金属疲劳识别实验 | 第51-69页 |
| 4.1 实验平台的搭建 | 第52-53页 |
| 4.2 裂缝的识别实验 | 第53-57页 |
| 4.2.1 均值滤波去噪 | 第53-55页 |
| 4.2.2 实验结果 | 第55-56页 |
| 4.2.3 裂缝评价标准 | 第56-57页 |
| 4.3 金属疲劳的识别实验 | 第57-67页 |
| 4.3.1 小波分解去噪 | 第57-61页 |
| 4.3.1.1 小波变换 | 第58页 |
| 4.3.1.2 小波多尺度分析 | 第58-59页 |
| 4.3.1.3 去噪结果 | 第59-61页 |
| 4.3.2 短时傅立叶变换 | 第61页 |
| 4.3.3 波包分解技术 | 第61-63页 |
| 4.3.4 实验结果 | 第63-67页 |
| 4.3.4.1 短时傅立叶变换处理结果 | 第63-65页 |
| 4.3.4.2 波包分解处理结果 | 第65-67页 |
| 4.3.4.3 两种处理方法的对比分析 | 第67页 |
| 4.4 损伤检测时间的估算 | 第67-68页 |
| 4.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 第五章 结论 | 第69-71页 |
| 5.1 全文总结 | 第69页 |
| 5.2 下一步工作展望 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第75-76页 |
