| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 引言 | 第9-10页 |
| 第1章 文献综述 | 第10-29页 |
| 1.1 同步辐射小角X射线散射介绍 | 第10-13页 |
| 1.1.1 小角X射线散射简介 | 第10页 |
| 1.1.2 同步辐射小角X射线散射介绍 | 第10-13页 |
| 1.2 SAXS对于溶胶-凝胶体系物种生长过程的研究 | 第13-16页 |
| 1.3 SAXS在分子筛合成过程中的应用 | 第16-19页 |
| 1.3.1 分子筛合成过程中的分形行为 | 第16-17页 |
| 1.3.2 分子筛合成体系中粒子的结构演变 | 第17-19页 |
| 1.4 SAXS在分子筛微结构表征中的应用 | 第19-25页 |
| 1.5 Y型分子筛的合成简介 | 第25-27页 |
| 1.6 本文的主要思路和研究内容 | 第27-29页 |
| 第2章 小角X射线散射实验数据预处理 | 第29-40页 |
| 2.1 引言 | 第29页 |
| 2.2 散射图像直通光中心的确定 | 第29-33页 |
| 2.2.1 Beamstop在图像中心时直通光中心的确定 | 第30-31页 |
| 2.2.2 Beamstop偏离图像中心时直通光中心的确定 | 第31-33页 |
| 2.3 积分范围对散射曲线结果的影响 | 第33-36页 |
| 2.3.1 不同矩形积分区域对于散射曲线形状的影响 | 第34-35页 |
| 2.3.2 不同扇形积分区域对散射曲线形状的影响 | 第35-36页 |
| 2.4 椭球形稀疏体系粒子轴比和半轴MATLAB求解 | 第36-39页 |
| 2.5 本章小结 | 第39-40页 |
| 第3章 SAXS样品测试厚度研究 | 第40-57页 |
| 3.1 引言 | 第40页 |
| 3.2 样品对X射线吸收的计算方法 | 第40-44页 |
| 3.3 实验方法 | 第44-45页 |
| 3.3.1 实验材料 | 第44-45页 |
| 3.3.2 测试计算方法 | 第45页 |
| 3.4 公式适用性结果与讨论 | 第45-47页 |
| 3.5 不同测试条件对于样品分析的影响 | 第47-56页 |
| 3.5.1 粉末样品不同厚度对于测试结果的影响 | 第47-49页 |
| 3.5.2 粉末样品不同测试时间对于测试结果的影响 | 第49-51页 |
| 3.5.3 溶胶凝胶样品的厚度与时间分析 | 第51-55页 |
| 3.5.4 通过改变测试时间弥补样品厚度的变化 | 第55-56页 |
| 3.6 本章小结 | 第56-57页 |
| 第4章 新硅源类固相法NaY分子筛的合成研究 | 第57-83页 |
| 4.1 引言 | 第57页 |
| 4.2 实验部分 | 第57-60页 |
| 4.2.1 实验原料及仪器设备 | 第57-59页 |
| 4.2.2 NaY分子筛的合成方法 | 第59-60页 |
| 4.3 表征方法 | 第60-62页 |
| 4.3.1 X射线粉末衍射（XRD） | 第60-61页 |
| 4.3.2 扫描电子显微镜（SEM） | 第61页 |
| 4.3.3 傅立叶变换红外光谱（FT-IR） | 第61-62页 |
| 4.3.4 小角X射线散射（SAXS） | 第62页 |
| 4.4 NaY分子筛合成规律的研究 | 第62-72页 |
| 4.4.1 导向剂陈化时间对NaY型分子筛合成的影响 | 第63-64页 |
| 4.4.2 导向剂加入量对NaY型分子筛合成的影响 | 第64-66页 |
| 4.4.3 导向剂硅铝比对于NaY分子筛合成的影响 | 第66-67页 |
| 4.4.4 反应体系铝源的选择对NaY分子筛合成的影响 | 第67-68页 |
| 4.4.5 反应凝胶体系的投料硅铝比对NaY型分子筛合成的影响 | 第68-70页 |
| 4.4.6 晶化时间对NaY分子筛的影响 | 第70页 |
| 4.4.7 小型放大实验研究与技术优势 | 第70-72页 |
| 4.5 小角X射线散射应用于类固相体系Y分子筛合成过程研究 | 第72-81页 |
| 4.5.1 小角X射线散射对导向剂生长过程的研究：温度的影响 | 第73-76页 |
| 4.5.2 小角X射线散射对分子筛生长过程结构变化的研究 | 第76-80页 |
| 4.5.3 小角X射线散射研究溶胶生长变化及分子筛合成过程展望 | 第80-81页 |
| 4.6 本章小结 | 第81-83页 |
| 第5章 结论 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-90页 |
| 致谢 | 第90页 |
