面向新型阻变单元的脉冲测量系统设计
| 中文摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10页 |
| 1.2 半导体测试设备现状 | 第10-11页 |
| 1.2.1 脉冲信号发生器 | 第10-11页 |
| 1.2.2 半导体参数分析仪 | 第11页 |
| 1.2.3 开关矩阵 | 第11页 |
| 1.3 脉冲测量方法的研究内容与技术要求 | 第11-12页 |
| 1.3.1 脉冲测量的优点 | 第11-12页 |
| 1.3.2 脉冲测量的类型 | 第12页 |
| 1.4 脉冲测量方法的技术要求 | 第12-13页 |
| 第二章 新型阻变存储器电学测试原理及方法 | 第13-17页 |
| 2.1 阻变存储器 | 第13-14页 |
| 2.1.1 阻变存储器的存储原理 | 第13-14页 |
| 2.1.2 阻变储存单元结构 | 第14页 |
| 2.2 一般存储器的指标和相关标准 | 第14-15页 |
| 2.2.1 编程/擦除耐久性 | 第14-15页 |
| 2.2.2 数据保持能力 | 第15页 |
| 2.2.3 相关标准 | 第15页 |
| 2.3 阻变存储器的测试参数 | 第15-16页 |
| 2.3.1 编程/擦除实现 | 第15-16页 |
| 2.3.2 编程/擦除耐久性 | 第16页 |
| 2.3.3 高低阻态的电阻比率 | 第16页 |
| 2.4 本章小结 | 第16-17页 |
| 第三章 脉冲测量系统设计与调试 | 第17-47页 |
| 3.1 系统设计 | 第17-18页 |
| 3.1.1 系统需求分析 | 第17页 |
| 3.1.2 系统架构 | 第17-18页 |
| 3.2 数字电路部分设计 | 第18-27页 |
| 3.2.1 数模转换器(DAC)电路设计 | 第18-19页 |
| 3.2.2 模数转换器(ADC)电路设计 | 第19-22页 |
| 3.2.3 FPGA电路设计 | 第22-24页 |
| 3.2.4 时钟电路设计 | 第24-26页 |
| 3.2.5 通信部分电路设计 | 第26-27页 |
| 3.2.6 总结 | 第27页 |
| 3.3 模拟电路设计 | 第27-38页 |
| 3.3.1 高速输出波形的调整与放大 | 第28-31页 |
| 3.3.2 滤波器设计 | 第31-34页 |
| 3.3.3 电压电流检测 | 第34-38页 |
| 3.3.4 总结 | 第38页 |
| 3.4 电源设计 | 第38-47页 |
| 3.4.1 模拟部分电源设计 | 第39-42页 |
| 3.4.2 数字部分电源设计 | 第42-46页 |
| 3.4.3 总结 | 第46-47页 |
| 第四章 系统测试 | 第47-56页 |
| 4.1 模拟电源输出及性能测试 | 第47-52页 |
| 4.1.1 输出电压校对测试 | 第47-49页 |
| 4.1.2 纹波测试 | 第49-52页 |
| 4.2 DAC波形输出调整电路测试测试 | 第52-54页 |
| 4.2.1 第一级放大调整电路功能测试 | 第53页 |
| 4.2.2 第二级放大功能测试 | 第53-54页 |
| 4.3 电流电流采样测试 | 第54-55页 |
| 4.3.1 回检电流波形验证 | 第54页 |
| 4.3.2 回检电压波形验证 | 第54-55页 |
| 4.4 总结 | 第55-56页 |
| 第五章 总结与展望 | 第56-58页 |
| 5.1 论文总结 | 第56-57页 |
| 5.2 改进与展望 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-62页 |
| 学位论文评阅及答辩情况表 | 第62页 |
