| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第16-17页 |
| 1.2 存储器内建自测试概述与研究现状 | 第17-19页 |
| 1.2.1 可测性设计与存储器内建自测试 | 第17-18页 |
| 1.2.2 国内外研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3 论文的主要内容和章节安排 | 第19-22页 |
| 第二章 存储器故障模型与测试算法 | 第22-34页 |
| 2.1 嵌入式存储器分类 | 第22-23页 |
| 2.2 嵌入式存储器的故障模型 | 第23-29页 |
| 2.2.1 故障模型和故障原语 | 第23-24页 |
| 2.2.2 单端口故障模型 | 第24-27页 |
| 2.2.3 双端口故障模型 | 第27-29页 |
| 2.3 嵌入式存储器内建自测试算法 | 第29-32页 |
| 2.3.1 存储器测试算法概述 | 第29-30页 |
| 2.3.2 常见故障的测试机理 | 第30-31页 |
| 2.3.3 March算法 | 第31-32页 |
| 2.3.4 双端口故障测试算法 | 第32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-34页 |
| 第三章 可编程内建自测试系统设计 | 第34-54页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 可编程内建自测试指令集设计 | 第34-37页 |
| 3.3 可编程内建自测试电路设计 | 第37-42页 |
| 3.3.1 可编程内建自测试系统结构 | 第37-39页 |
| 3.3.2 可编程内建自测试模块设计 | 第39-42页 |
| 3.4 可编程内建自测试仿真验证与实现 | 第42-47页 |
| 3.5 嵌入式存储器内建自诊断 | 第47-50页 |
| 3.5.1 存储器内建自诊断电路设计 | 第47-48页 |
| 3.5.2 存储器故障字典 | 第48-49页 |
| 3.5.3 仿真验证 | 第49-50页 |
| 3.6 嵌入式存储器内建自修复 | 第50-52页 |
| 3.6.1 内建自修复电路设计 | 第50-52页 |
| 3.6.2 仿真验证 | 第52页 |
| 3.7 本章小结 | 第52-54页 |
| 第四章 基于IEEE1500标准的存储器测试Wrapper的设计 | 第54-68页 |
| 4.1 引言 | 第54页 |
| 4.2 IEEE std 1500 测试协议概述 | 第54-56页 |
| 4.3 存储器测试Wrapper的设计 | 第56-63页 |
| 4.3.1 测试Wrapper系统设计 | 第56-57页 |
| 4.3.2 WIR单元电路的设计 | 第57-59页 |
| 4.3.3 WBY单元电路设计 | 第59页 |
| 4.3.4 WBR单元电路的设计 | 第59-63页 |
| 4.4 测试Wrapper的仿真验证与实现 | 第63-66页 |
| 4.5 本章小结 | 第66-68页 |
| 第五章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 5.1 论文总结 | 第68-69页 |
| 5.2 研究展望 | 第69-70页 |
| 附录A | 第70-76页 |
| 附录B | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-84页 |
| 致谢 | 第84-86页 |
| 作者简介 | 第86-87页 |