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电子部件检测及故障诊断系统设计与实现

摘要第4-5页
abstract第5页
注释表第12-13页
第一章 绪论第13-18页
    1.1 课题研究的背景和意义第13页
    1.2 设备故障诊断的基本方法第13-15页
    1.3 国内外研究现状第15-16页
        1.3.1 光电雷达国内外现状第15页
        1.3.2 电子设备故障诊断国内外现状第15-16页
    1.4 论文的研究内容和章节安排第16-18页
第二章 故障树分析方法介绍第18-32页
    2.1 故障树分析法的概述第18-22页
        2.1.1 故障树分析法的符号和含义第18-19页
        2.1.2 故障树的数学表示第19-21页
        2.1.3 故障树的步骤和建立基本方法第21-22页
    2.2 故障树的定性分析第22-24页
        2.2.1 最小割集及其求解方法第22-24页
        2.2.2 布尔化简法第24页
    2.3 故障树的定量分析第24-26页
        2.3.1 底事件及顶事件失效率分析第25页
        2.3.2 故障树重要度分析第25-26页
    2.4 底事件模糊失效率分析第26-31页
        2.4.1 模糊数的建立及其合成第26-28页
        2.4.2 专家权重的确定方法第28-30页
        2.4.3 模糊失效率的分析计算第30-31页
    2.5 本章小结第31-32页
第三章 电子部件检测及故障诊断系统总体结构及硬件设计第32-48页
    3.1 电子部件检测及故障诊断系统组成第32-38页
        3.1.1 光电雷达电子部件介绍第32-34页
        3.1.2 检测及故障诊断系统的主要功能第34-35页
        3.1.3 电子部件检测及故障诊断系统组成原理第35-37页
        3.1.4 电子部件总体检测方案设计第37-38页
    3.2 系统总体方案的设计第38-39页
    3.3 系统主要功能的硬件设计第39-45页
        3.3.1 频率产生电路的设计第39-41页
        3.3.2 展波电路的设计第41-42页
        3.3.3 TTL与ARINC429电平转换电路设计第42-44页
        3.3.4 信号调理功能模块设计第44-45页
    3.4 系统工作流程第45-46页
    3.5 设计过程中的技术难点第46-47页
    3.6 本章小结第47-48页
第四章 电子部件各模块检测方案及软件设计第48-66页
    4.1 电子部件主要功能模块检测方案设计第48-53页
        4.1.1 压-码、码-压转换器检测方案设计第48-51页
        4.1.2 脉码转换器检测方案设计第51-52页
        4.1.3 信息处理模块检测方案设计第52-53页
    4.2 测试系统软件结构的设计第53-55页
    4.3 测试系统软件各模块检测及故障诊断设计第55-62页
        4.3.1 压-码模块检测及故障诊断设计第55-57页
        4.3.2 脉码模块检测及故障诊断设计第57-58页
        4.3.3 匹配模块检测及故障诊断设计第58-59页
        4.3.4 信息处理模块检测及故障诊断设计第59-60页
        4.3.5 故障元器件定位模块设计第60-61页
        4.3.6 自检模块的设计第61-62页
    4.4 系统软件设计的技术难点第62-65页
        4.4.1 多线程技术第62-64页
        4.4.2 多媒体定时器第64-65页
    4.5 本章小结第65-66页
第五章 电子部件检测及故障诊断系统实验研究第66-83页
    5.1 故障树转二元决策图算法研究第66-73页
        5.1.1 二元决策图的基本概念第66页
        5.1.2 故障树结构预处理第66-71页
        5.1.3 故障树转二元决策图的节点化简法第71-73页
    5.2 电子部件故障树的建立第73-75页
        5.2.1 整体故障树的建立第73-74页
        5.2.2 压-码电路故障树建立第74页
        5.2.3 匹配电路板故障树建立第74-75页
    5.3 压-码电路故障树底事件模糊失效率第75-79页
    5.4 目标系统的故障树分析第79-82页
        5.4.1 目标系统故障树的定性分析第79-80页
        5.4.2 压-码模块故障树的定量分析第80-82页
    5.5 本章小结第82-83页
第六章 总结与展望第83-85页
    6.1 系统调试第83页
    6.2 本文主要工作和创新点第83-84页
    6.3 研究展望第84-85页
参考文献第85-88页
致谢第88-89页
在学期间的研究成果及发表的学术论文第89页

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