| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 激光雷达系统 | 第9-10页 |
| 1.2 PLIF成像技术 | 第10-11页 |
| 1.3 高灵敏顿面阵探测系统核心部分国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3.1 微光像增强器国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3.2 高速相机国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.4 本文的主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 探测系统工作原理与噪声因子分析 | 第15-27页 |
| 2.1 探测系统的组成 | 第15页 |
| 2.2 探测器核心组成部分 | 第15-21页 |
| 2.2.1 像增强器基本工作原理 | 第15-17页 |
| 2.2.2 像增强器的电流增益 | 第17-20页 |
| 2.2.3 像增强器噪声因子 | 第20-21页 |
| 2.3 探测系统噪声因子分析 | 第21-26页 |
| 2.3.1 像增强器噪声因子 | 第23-25页 |
| 2.3.2 高速相机噪声因子 | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 高灵敏度面阵探测器实验系统设计 | 第27-38页 |
| 3.1 探测系统发射光源 | 第27-28页 |
| 3.1.1 YAG激光器 | 第27页 |
| 3.1.2 溴钨灯光源 | 第27-28页 |
| 3.2 探测系统接收装置 | 第28-31页 |
| 3.2.1 信号延迟发生装置 | 第28-29页 |
| 3.2.2 光电探测器 | 第29-30页 |
| 3.2.3 高速相机 | 第30-31页 |
| 3.3 探测系统分辨率的测量 | 第31-37页 |
| 3.3.1 对比度计算 | 第31页 |
| 3.3.2 分辨率测量方案 | 第31-32页 |
| 3.3.3 labView计算条纹对比度 | 第32-35页 |
| 3.3.4 亮暗条纹对比度的获取 | 第35-37页 |
| 3.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 探测系统对单光子性能与增益响应特性的研究 | 第38-55页 |
| 4.1 探测系统增益响应特性研究 | 第38-40页 |
| 4.2 探测系统光功率响应特性研究 | 第40-45页 |
| 4.3 探测系统单光子性能的研究 | 第45-54页 |
| 4.3.1 单光子探测方案 | 第45-46页 |
| 4.3.2 单MCP探测器对于单光子信号的探测 | 第46-47页 |
| 4.3.3 单光子弥散现象仿真 | 第47-50页 |
| 4.3.4 双MCP探测器对于单光子信号的探测 | 第50-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 结论 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 致谢 | 第61页 |