TPS法热常数分析仪的开发与应用研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-18页 |
| 1.1 课题的研究背景和研究意义 | 第9页 |
| 1.2 物质热常数的基本概念 | 第9-12页 |
| 1.3 物质热常数的测量方法及国内外研究现状 | 第12-16页 |
| 1.3.1 测量物质热常数的重要性 | 第12-13页 |
| 1.3.2 物质热常数的测量方法 | 第13-16页 |
| 1.4 课题的主要研究内容 | 第16-18页 |
| 第二章 TPS法的原理介绍及影响因素分析 | 第18-26页 |
| 2.1 概述 | 第18页 |
| 2.2 TPS法的基本原理 | 第18-23页 |
| 2.3 TPS法测量误差的影响因素及补偿方法 | 第23-25页 |
| 2.3.1 探头热容的影响及补偿方法 | 第23-24页 |
| 2.3.2 功率变化的影响和补偿方法 | 第24-25页 |
| 2.3.3 时间延迟的影响及补偿方法 | 第25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 温升模型的简化模型 | 第26-31页 |
| 3.1 概述 | 第26页 |
| 3.2 D(Τ)的函数曲线 | 第26-27页 |
| 3.3 幂函数结构的简化模型和误差分析 | 第27-30页 |
| 3.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第四章 TPS法热常数分析仪的总体系统设计 | 第31-43页 |
| 4.1 概述 | 第31页 |
| 4.2 硬件系统设计 | 第31-37页 |
| 4.2.1 数字可调直流稳压源设计 | 第31-35页 |
| 4.2.2 探头加热和电压采集系统设计 | 第35-37页 |
| 4.3 软件系统设计 | 第37-42页 |
| 4.3.1 单片机程序设计 | 第37-38页 |
| 4.3.2 上位机LABVIEW程序设计 | 第38-42页 |
| 4.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第五章 仪器的标定和测量试验 | 第43-60页 |
| 5.1 探头和标准电阻的稳定性测试 | 第43-45页 |
| 5.2 电源输出电压的稳定性测试 | 第45-46页 |
| 5.3 TPS热常数分析仪整体标定 | 第46-53页 |
| 5.3.1 测量参数的选择 | 第46-49页 |
| 5.3.2 测量结果的校准 | 第49-53页 |
| 5.4 物质热常数的测量试验 | 第53-58页 |
| 5.4.1 被测样品的准备 | 第53-55页 |
| 5.4.2 探头的选择 | 第55页 |
| 5.4.3 测量结果及分析 | 第55-58页 |
| 5.5 本章小结 | 第58-60页 |
| 第六章 总结与展望 | 第60-62页 |
| 6.1 总结 | 第60-61页 |
| 6.2 展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 发表论文及科研情况说明 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
