摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
第一章 绪论 | 第8-12页 |
1.1 研究背景 | 第8页 |
1.2 国内外研究现状及发展动态 | 第8-9页 |
1.3 论文研究内容及意义 | 第9-11页 |
1.4 论文组织结构 | 第11-12页 |
第二章 频率综合器概述 | 第12-24页 |
2.1 引言 | 第12页 |
2.2 锁相环基础 | 第12-13页 |
2.3 整数分频锁相环基本电路模块 | 第13-19页 |
2.3.1 鉴频鉴相器 | 第13-15页 |
2.3.2 压控振荡器 | 第15-16页 |
2.3.3 分频器 | 第16-17页 |
2.3.4 电荷泵 | 第17-18页 |
2.3.5 环路滤波器 | 第18-19页 |
2.4 整数频率综合器环路分析 | 第19-22页 |
2.5 本章小结 | 第22-24页 |
第三章 压控振荡器和高速模拟分频器的设计 | 第24-46页 |
3.1 引言 | 第24页 |
3.2 压控振荡器原理结构 | 第24-29页 |
3.2.1 振荡器起振条件 | 第24-25页 |
3.2.2 两端负反馈系统分析 | 第25-26页 |
3.2.3 单端能量补偿系统分析 | 第26-27页 |
3.2.4 压控环形振荡器结构 | 第27-29页 |
3.3 压控环形振荡器电路设计 | 第29-33页 |
3.3.1 设计指标要求 | 第29页 |
3.3.2 结构选择 | 第29-30页 |
3.3.3 电路优化 | 第30-33页 |
3.4 分频器原理结构 | 第33-39页 |
3.4.1 TSPC分频电路结构 | 第34-35页 |
3.4.2 CML模拟分频电路结构 | 第35-38页 |
3.4.3 小数分频电路结构 | 第38-39页 |
3.5 高速CML模拟分频器电路设计 | 第39-44页 |
3.5.1 设计指标要求 | 第39-40页 |
3.5.2 结构选择 | 第40-41页 |
3.5.3 电路优化 | 第41-44页 |
3.6 本章小结 | 第44-46页 |
第四章 电荷泵、鉴相器和环路滤波器设计 | 第46-60页 |
4.1 引言 | 第46页 |
4.2 电荷泵鉴相器原理 | 第46-53页 |
4.2.1 鉴相器原理 | 第46-48页 |
4.2.2 电荷泵基本结构 | 第48-51页 |
4.2.3 电荷泵鉴相器的非理想效应 | 第51-53页 |
4.3 电荷泵鉴相器设计 | 第53-56页 |
4.3.1 三态鉴频鉴相器设计 | 第53-54页 |
4.3.2 电荷泵设计 | 第54-56页 |
4.4 环路低通滤波器设计 | 第56-59页 |
4.5 本章小结 | 第59-60页 |
第五章 版图设计与后仿真 | 第60-74页 |
5.1 引言 | 第60页 |
5.2 工艺版图中的失效机制 | 第60-64页 |
5.2.1 电过应力 | 第60-62页 |
5.2.2 玷污 | 第62-63页 |
5.2.3 表面效应 | 第63页 |
5.2.4 寄生效应 | 第63-64页 |
5.2.5 器件失配 | 第64页 |
5.3 频率综合器版图设计 | 第64-68页 |
5.3.1 压控震荡器版图 | 第64-65页 |
5.3.2 分频器版图 | 第65-66页 |
5.3.3 鉴频鉴相器版图 | 第66页 |
5.3.4 电荷泵版图 | 第66页 |
5.3.5 总版图 | 第66-68页 |
5.4 频率综合器后仿真设计 | 第68-72页 |
5.5 本章小结 | 第72-74页 |
第六章 芯片测试 | 第74-78页 |
6.1 引言 | 第74页 |
6.2 测试环境 | 第74-75页 |
6.2.1 研究测试 | 第74页 |
6.2.2 生产测试 | 第74-75页 |
6.3 超外差接收芯片测试即频率综合器子模块测试分析 | 第75-77页 |
6.4 频率综合器改进方案 | 第77页 |
6.5 本章小结 | 第77-78页 |
第七章 总结和展望 | 第78-80页 |
7.1 总结 | 第78页 |
7.2 展望 | 第78-80页 |
参考文献 | 第80-84页 |
致谢 | 第84页 |